Die Schichtdickenmessung ist eine Anforderung für Hersteller, die Beschichtungen auf Metallteile auftragen, da Instrumente Qualität, genaue Spezifikationen sicherstellen und Kosten sparen.
Bowman-Schichtdickenmessgeräte verfügen über eine firmeneigene Detektionstechnologie und eine fortschrittliche Software, mit der Systeme auch die in der Probe vorhandenen Elemente bestimmen können. Unsere RFA-Geräte messen gleichzeitig bis zu fünf Überzugsschichten, bei denen es sich allesamt um Legierungen handeln kann, und auch HEAs (High Entropy Coatings).
Eine Mikrofokus-Videokamera, ausgerichtet auf die Achse der Röntgenoptik, zeigt den Messbereich auf der Probe. Die Anpassung an Proben unterschiedlicher Höhe erfolgt über eine motorisierte Z-Achse und einen Fokuslaser.
Das Bowman RFA Schichtmesssystem erfüllt die strengsten Anforderungen der Branche an Präzision, Zuverlässigkeit und Benutzerfreundlichkeit. Ein kompaktes, ergonomisches Design ermöglicht die Analyse für jede Anwendung - zu einem Preis, der eine schnelle Kapitalrendite garantiert.
Was sind Ihre Anforderungen?
Größere Genauigkeit? Schnellerer Durchsatz? Mehr Flexibilität bei der Größe der Proben - oder der Ergebnisausgabe?
Nehmen Sie Kontakt auf.Konfigurationen für jeden Messbedarf
- G Serie Übergangsmetallanalyse für die Schmuckindustrie
- B Serie für kleine galvanisierte Proben
- P Serie "Multitasker" für Elektronik, allgemeine Veredelung, Edelmetalle
- L Serie für große galvanisierte Proben
- K-Serie Messbereich 12 mm x 12 mm
- O Serie Dünnschichtanalysator mit μ-Spot-Polykapillaroptik kleiner Messfleck
- M Serie Dünnschichtanalysator mit μ-Spot-Polykapillaroptik sehr kleiner Messfleck
- W Serie zum Messen kleinster Merkmale in der Mikroelektronik
- A-Serie zur präzisen Messung von Halbleitern & Mikroelektronik
- Schnelle, zerstörungsfreie Analyse innerhalb von Sekunden
- Simultane Analyse von bis zu 25-Elementen
- Messen Sie bis zu fünf Schichten gleichzeitig, wobei es sich um Legierungen handeln kann
- Fundamental Parameter (FP) Methode zur standardlosen Messung von Schichtdicke und Zusammensetzung
- Einfache Anbindung und Bedienung - eine USB-Kabelverbindung
- Einfache Bedienelemente an der Vorderseite
- Geringer Platzbedarf
- Leichtgewicht
- Entwickelt für maximale Flexibilität und einfachste Bedienung
- Fortgeschrittener Schütze Software.
- Intuitive ikongesteuerte grafische Oberfläche
- Leistungsstarke qualitative Analyse
- Bibliothek von Kalibrierstandards mit automatischer Rezertifizierungserinnerung
- Anpassbare Tastenkombinationen für schnelle Analysen
- Flexible Datenanzeige und -ausgabe
- Leistungsstarker Berichtsgenerator
- Geschlossenes geometrisches Design für mehr Energieeffizienz und Präzision
- Bewährte Siliziumdetektoren bieten höhere Auflösung, Stabilität und Empfindlichkeit
- Schnelle Aufwärmzeit und längere Lebensdauer der Röntgenröhre
- L-Linie Schichtanalyse für Ag, Sn
- Mehrere Primärfilter und Kollimatoren für höchste Variabilität
- Variable Messabstände für komplexe Probenformen und Dickschichtanalysen
- Modularer Geräteaufbau für einfache Wartung
Vier Probenbühnenoptionen
Normen
Feste Basis
Erweitert programmierbar
XY-Basis
Motorisiert / programmierbar
XY-Basis
Maximales Reisen verlängert
XY-Basis
Hergestellt in den USA