Die RFA ist sehr empfindlich gegenüber metallischen Elementen, insbesondere den Elementen von Ti-U im Periodensystem. Für die Schichtdickenanalyse kann die RFA auf jede metallische Beschichtung, ein- oder mehrschichtig und auf jedes metallische oder nichtmetallische Substrat angewendet werden.
Bei der Legierungsanalyse kann die RFA die prozentuale Zusammensetzung für jedes Legierungselement und die Legierungsnummer bestimmen. Bei der Badanalyse können Metallionen in galvanischen Bädern zur Prozesskontrolle quantifiziert werden.
Hauptmerkmale der Bowman Systeme
- Zerstörungsfreie Messung mit minimaler Probenvorbereitung
- Schnelle Analyse – Ergebnisse in Sekunden
- Kostengünstiger Betrieb: kein Laborpersonal nötig, kann von nahezu jedem bedient werden.
- Vielseitige Technik zur Messung verschiedener Arten von Proben
- Kleine Messflecken für Mikromerkmale auf großen Proben
- Gleichzeitige Analyse der meisten metallischen Elemente
- Weit verbreitete industrielle Prüfmethode
Vergleich verschiedener Detektortechnologien, die in Röntgenfluoreszenzsystemen verwendet werden.
Proportionalzähler
- Hohes Grundrauschen
- Geringe Auflösung
- Instabil bei Temperatur- und Feuchtigkeitsänderung
- Erfordert ständiges Rekalibrieren
Silizium PIN Diode
- Niedriges Grundrauschen
- Gute Auflösung
- Gute Nachweisgrenzen
- Peltiergekühlt: sehr stabil - keine Klimaeinflüsse
Silizium Drift Detektor (SDD)
- Geringstes Grundrauschen
- Höchste Zählraten
- Beste Auflösung
- Niedrigste Nachweisgrenzen
- Größte Flexibilität für breiteste Elementpalette
- Peltiergekühlt: sehr stabil - keine Klimaeinflüsse
Alle Bowman XRF-Instrumente verwenden Siliziumdriftdetektoren für höchste Auflösung, niedrigste Rauschpegel und größte Gesamtstabilität.
Das gewährleistet genaue Schichtdickenmessungen und Elementaranalysen.
Hergestellt in den USA