Die W-Serie Micro XRF verwendet Polykapillaroptik, um den Röntgenstrahl auf 7.5 µm FWHM zu fokussieren, die weltweit kleinste Strahlgröße für die Analyse der Schichtdicke mithilfe der RFA-Technologie. Dies macht es ideal für die Messung von Proben wie BGAs und kleineren Lötperlen. Eine Kamera mit 140-facher Vergrößerung wird verwendet, um Merkmale auf dieser Skala zu messen. Es wird von einer sekundären Kamera mit geringer Vergrößerung für Live-Betrachtungsproben und Makroansichten aus der Vogelperspektive begleitet. Mit dem Dual-Kamera-System von Bowman können Bediener den gesamten Teil sehen, auf das Bild klicken, um mit der High-Mag-Kamera zu zoomen, und die zu programmierende und zu messende Funktion genau bestimmen.

Ein programmierbarer XY-Tisch mit einer Genauigkeit von weniger als +/- 1 µm für jede Achse wird verwendet, um mehrere Punkte auszuwählen und zu messen. Die Bowman-Mustererkennungssoftware und die Autofokusfunktionen erledigen dies ebenfalls automatisch. Mit der 3D-Zuordnungsfunktion des Systems kann die Topographie einer Beschichtung auf einem Teil wie einem Siliziumwafer angezeigt werden.

Die Standardkonfiguration der Instrumente der W-Serie umfasst 7.5-μm-Optiken mit Molybdän-Anodenrohr (optional Chrom und Wolfram) und einen hochauflösenden Siliziumdriftdetektor mit großen Fenstern, der mehr als 2 Millionen Zählimpulse pro Sekunde verarbeitet.

Das Micro XRF der W-Serie ist das siebte Modell in der RFA-Instrumentenreihe von Bowman. Wie andere im Portfolio misst es gleichzeitig bis zu fünf Beschichtungsschichten und führt die fortschrittliche Archer-Software aus, um die Beschichtungsdicke anhand der erfassten Photonen zu quantifizieren. Die Archer-Software kombiniert intuitive visuelle Steuerelemente mit zeitsparenden Verknüpfungen, umfangreichen Suchfunktionen und „One-Click“-Berichten. Die Software vereinfacht auch die Erstellung neuer Anwendungen durch den Benutzer.

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