XRF für elektronische Komponenten

Unsere XRF-Schichtdickenmesssysteme eignen sich ideal für Steckverbinder, Kühlkörper, Batteriekomponenten und andere elektronische Komponenten.

Mit der Verbreitung elektronischer Geräte müssen Hersteller mit schnelleren, zuverlässigeren und kostengünstigeren elektrischen Komponenten Schritt halten. Bowman arbeitete eng mit Elektronikherstellern und ihren Galvanikbetrieben zusammen, um eine Reihe von XRF-Tischgeräten zu entwickeln, die Teile aller Formen und Größen schnell und präzise messen.

P Serie

Abmessungen der Probenkammer: 12 x 13 x 5.5 Zoll (BxTxH). Beinhaltet einen programmierbaren XY-Tisch (Verfahrweg von 5 x 6 Zoll bis 16 x 16 Zoll) und mehrere Kollimatoren (Standardeinstellung: 4, 8, 12, 24 Mil, kundenspezifische Optionen verfügbar).

L Serie

Abmessungen der Probenkammer: 22 Zoll x 24 Zoll x 11 Zoll (BxTxH). Beinhaltet einen programmierbaren XY-Tisch (Verfahrweg 10 x 10 Zoll) und mehrere Kollimatoren (Standardeinstellung: 4, 8, 12, 24 mil, kundenspezifische Optionen verfügbar).

Anwendungsbulletin 3.1:
Messung des %P unter der Au-Beschichtung

Anwendungsbulletin 3.1

Eine wichtige Studie konzentriert sich auf die Anforderung, den Phosphoranteil in einer Nickel-Phosphor-Schicht unter Gold zu messen. Präzise Messungen sind bei der Herstellung von Leiterplatten von entscheidender Bedeutung, um sie vor Oxidation zu schützen und die Lötbarkeit von Kupferkontakten sowie plattierten Durchkontaktierungen und Durchgangslöchern zu verbessern.