IPC 4552 stellt Leiterplattenhersteller, die ENIG-Beschichtungen auf ihre Leiterplatten auftragen, vor Herausforderungen. Die neue Spezifikation legt insbesondere eine Obergrenze für die Goldmenge fest, die für eine optimale Produktleistung verwendet wird. Diese Golddicke muss genau überwacht werden, und die akzeptierte Messmethode ist die RFA-Dickenprüfung. Um die Golddicke in diesem neu definierten Bereich genau zu messen, sind spezielle RFA-Hardware, Software und Kalibrierungsstandards erforderlich.

Die meisten PCB-Hersteller haben bereits XRF-Geräte als Teil ihres QC-Prozesses installiert, aber sie stellen fest, dass viele der älteren Geräte Schwierigkeiten haben, die neuen Anforderungen der IPC-Spezifikationen zu erfüllen, und möglicherweise auf die neueste XRF-Technologie aktualisiert werden müssen. Bowman ist das einzige Unternehmen, das garantiert, dass alle seine RFA-Systeme die neuen IPC 4552-Anforderungen erfüllen.

Insbesondere verlangt die IPC, dass eine Prüfmittelleistungsstudie durchgeführt wird, bei der Standards mit bekannter Dicke > 30 Mal gemessen und die statistischen Ergebnisse gemeldet werden. Wenn die XRF die Genauigkeits- und Präzisionsanforderungen nicht erfüllt, müssen Schutzbänder angebracht werden, um den Dickentoleranzbereich weiter zu verringern, wodurch die Bediener des Beschichtungsprozesses stärker belastet werden.

Alle Bowman-Systeme haben sich bewährt und erfüllen und übertreffen garantiert die Anforderungen der Gage-Studie, sodass Änderungen im Beschichtungsprozess nicht zu befürchten sind. Dieses hohe Leistungsniveau wird durch Bowmans exklusive Verwendung der Silizium-Drift-Detektor-Technologie (SDD) ermöglicht, der besten verfügbaren Technologie für XRF-Instrumente. SDDs bieten auch eine direkte Messung von %P in stromlosen Nickelablagerungen, was aktuellere Informationen über das Beschichtungsbad liefert und eine noch größere Konsistenz bei der Überwachung der Beschichtungsdicke bietet.

Bowman bietet zwei Arten von SDDs an. Das Standard-SDD wird mit jedem Bowman-System geliefert und bietet eine deutlich bessere Leistung im Vergleich zu Detektoren mit Proportionalzähler („Requisitenzähler“) oder PIN-Detektoren. Wir bieten auch eine Großfenster-Graphen-SDD-Upgrade-Option an, die die Gesamtleistung verbessert, die Testzeiten minimiert (dh <10 s mit 24-mil-Kollimator, um die Messanforderungen zu erfüllen) und eine noch größere „leichte“ Elementempfindlichkeit für Elemente wie Phos bietet. Diese exklusiven Funktionen und unser erstklassiges lokales Support-Netzwerk sind überzeugende Argumente dafür, Bowman für Ihren nächsten XRF-Instrumentenkauf zu wählen.