Bowman hat gerade ein mit Spannung erwartetes Anwendungsbulletin veröffentlicht, in dem die Fähigkeit seiner RFA-Tischgeräte zur präzisen Messung metallisierter PVD-Aluminiumoberflächen detailliert beschrieben wird. Diese sind zu stark nachgefragten Oberflächen geworden
vielfältige Anwendungen in der Automobilindustrie und anderswo, die ultradünne Funktionsbeschichtungen erfordern.
Beim PVD-Verfahren wird eine nur wenige Nanometer dicke Schicht aus hochdichtem Material abgeschieden. Bowman RFAs messen präzise PVD-Aluminium und PVD-Chrom, sowohl als reines Material als auch als Legierung. Der effektive Dickenbereich liegt bei 10–100 nm auf einem ABS- oder Siliziumsubstrat.
Diese Fähigkeit wird zum Teil durch den großen Silizium-Drift-Detektor von Bowman ermöglicht. „SDDs“ bieten die beste Auflösung, den niedrigsten Rauschpegel (höchstes S/N-Verhältnis) und kürzeste Testzeiten.
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Hergestellt in den USA
