SDDs bieten die beste Auflösung, niedrigster Geräuschpegel (höchstes S/N-Verhältnis), Langzeitstabilität und kürzeste Testzeiten. Sie messen %P auch direkt in stromlosen Nickelabscheidungen. In Kombination mit der äußerst zuverlässigen Röntgenröhre von Bowman stellt dieses Hardware-Duo einen soliden Kern in jedem von uns angebotenen RFA-System dar.

Ob Sie ENIG, ENEPIG, HASL messen, chemisches Nickel, %P, RoHS oder eine andere PCB-Anwendung, Bowman hat die perfekte Lösung für Ihre Anforderungen. Mit einer umfassenden Auswahl an Modellen und Hardwareoptionen können unsere Experten Ihnen helfen, die beste Lösung für Ihre Anforderungen zu finden.

Die beiden beliebtesten Modelle für die PCB-Analyse sind die Systeme der P- und B-Serie. Die P-Serie verfügt über eine Multikollimatorbaugruppe zur Aufnahme verschiedener Padgrößen sowie programmierbarer XY-Tischgrößen und Verfahrbereiche. Die B-Serie ist die günstigste Option und bietet die gleiche Messleistung wie die P-Serie, ohne den programmierbaren Tisch oder mehrere Kollimatorgrößen.

Wenn sich Ihre Strukturgrößen 100 µm oder weniger nähern, Bowman bietet polykapillare Optiksysteme an, die eine sehr kleine Röntgenstrahlgröße mit hohem Flussniveau kombinieren. Mit abnehmender Kollimatorgröße nimmt gleichzeitig auch die Menge der Röntgenstrahlen (Fluss) ab. Dies wirkt sich direkt auf die Wiederholbarkeit aus und erhöht die erforderliche Testzeit, um akzeptable Ergebnisse zu erzielen. Polykapillaroptiken bieten die effektivste Lösung für sehr kleine Strukturen, und Bowman bietet Strahlgrößen bis hinunter zu 7.5 µm FWHM, die kleinsten in der Branche.