La medición del espesor del revestimiento es un requisito para los fabricantes que colocan revestimientos en piezas metálicas, ya que los instrumentos garantizan calidad, especificaciones precisas y economizan gastos.
Los instrumentos de medición de espesor de recubrimiento Bowman tienen tecnología de detección patentada y software avanzado que permite a los sistemas determinar también los elementos presentes en la muestra. Nuestros instrumentos XRF miden simultáneamente hasta cinco capas de recubrimiento, todas las cuales pueden ser aleaciones y también pueden medir HEA (recubrimientos de alta entropía).
Una cámara de video de microenfoque, alineada con el eje de la óptica de rayos X, selecciona el área de la muestra que se va a medir. Un elevador controlado por un láser de enfoque acomoda muestras de medición de diferentes alturas.
El sistema de medición de recubrimiento Bowman XRF cumple con los requisitos más estrictos de la industria en cuanto a precisión, confiabilidad y facilidad de uso. Un diseño compacto y ergonómico hace que el análisis sea conveniente para cada aplicación, a un precio garantizado para producir un ROI rápido.
¿Qué quieres lograr?
Mayor precisión? ¿Un rendimiento más rápido? Mayor flexibilidad en el tamaño de muestra - o salida?
Hablemos.Configuraciones para cada necesidad de medición
- Serie G Análisis de metales de transición para la industria de la joyería.
- Serie B para pequeñas muestras galvanizadas
- Serie P "Multi-tasker" para electrónica, acabado general, metales preciosos
- Serie L para muestras galvanoplásticas grandes
- Serie k Área de piezas medibles de 12” x 12”
- Serie O analizador de película delgada grande
- Serie M analizador de película delgada y pequeña con óptica capilar poli por punto μ
- Serie W para medir las características más pequeñas en microelectrónica
- Serie A para la medición precisa de semiconductores y microelectrónica
- Rápido análisis no destructivo en segundos
- Análisis de composición simultánea de hasta elementos 25
- Mida hasta cinco capas de recubrimiento simultáneamente, todas las cuales pueden ser aleaciones
- Parámetros Fundamentales (FP) - impulsado estándar de espesor y análisis de composición
- Fácil configuración y operación: una conexión de cable USB
- Controles sencillos en el panel frontal
- Pequeña huella de pie
- Ligeros
- Diseñado para maximizar la flexibilidad y minimizar los errores del usuario
- Avanzado Arquero software
- Interfaz gráfica intuitiva basada en iconos
- Potente análisis cualitativo
- Biblioteca estándar con recordatorio de recertificación automática
- Teclas de acceso directo personalizables para un análisis rápido
- Visualización y salida de datos flexibles
- Potente generador de informes
- Diseño geométrico de acoplamiento cerrado para una mayor eficiencia energética y precisión
- El detector de estado sólido probado en el campo proporciona una mayor resolución, estabilidad y sensibilidad
- Tiempo de calentamiento rápido y mayor vida del filamento del tubo de rayos X
- L line Análisis de película delgada para Ag, Sn
- Múltiples filtros primarios y colimadores para versatilidad
- Profundidad focal variable para formas de muestra complejas y análisis de capa más gruesa
- Diseño de componentes modulares para un fácil mantenimiento
Cuatro opciones de etapa de muestra
Estándar
Base fija
Programable extendido
Base XY
Motorizado / programable
Base XY
Viaje máximo extendido
Base XY
Hecho en USA