Requisitos de IPC 4552- Rev. A/B

IPC 4552-Rev A/B presenta desafíos para los fabricantes de PCB que aplican recubrimientos ENIG a sus placas. En particular, la nueva especificación pone un límite superior a la cantidad de oro que se aplica para un rendimiento óptimo del producto. Este espesor de oro debe monitorearse de cerca, y el método de medición aceptado es la prueba de espesor XRF. Para medir con precisión el espesor del oro en este rango recientemente definido, se requieren estándares de calibración, software y hardware XRF específicos.

La mayoría de los fabricantes de PCB ya tienen implementado equipos XRF como parte de su proceso de control de calidad, pero están descubriendo que muchos de los instrumentos más antiguos tienen dificultades para cumplir con las nuevas especificaciones IPC y pueden requerir actualización a la última tecnología XRF. Bowman es la única empresa que garantiza que todos sus sistemas XRF cumplen con los nuevos requisitos IPC 4552-Rev A/B.

Específicamente, el IPC requiere que se lleve a cabo un estudio de desempeño de los calibres midiendo estándares de espesor conocido >30 veces e informando los resultados estadísticos. Si el XRF no cumple con los requisitos de exactitud y precisión, se deben aplicar bandas protectoras para reducir aún más el rango de tolerancia del espesor, lo que genera más carga para los operadores del proceso de recubrimiento.

Todos los sistemas Bowman han sido probados y garantizados para cumplir y superar los requisitos del estudio de calibre, por lo que no hay preocupación por los cambios en el proceso de enchapado. Este alto nivel de rendimiento es posible gracias al uso exclusivo de Bowman de la tecnología de detección de deriva de silicio (SDD), la mejor disponible para instrumentos XRF. Los SDD también brindan una medición directa del %P en depósitos de níquel no electrolítico, lo que brinda información más actualizada sobre el baño de recubrimiento y proporciona una consistencia aún mayor en el monitoreo del espesor del recubrimiento.

Bowman ofrece dos tipos de SDD. El SDD estándar viene con todos los sistemas Bowman y ofrece un rendimiento significativamente mejor en comparación con los detectores de contador proporcional ("contador de accesorios") o detectores PIN. También ofrecemos una opción de actualización SDD de grafeno de ventana grande que mejora el rendimiento general, minimiza los tiempos de prueba (es decir, <10 s con colimador de 24 mil para pasar los requisitos de calibre) y proporciona una sensibilidad de elementos "ligeros" aún mayor para elementos como phos. Estas características exclusivas y nuestra red de soporte local, la mejor en su clase, constituyen un argumento poderoso para elegir Bowman para su próxima compra de instrumentos XRF.


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