XRF para marcos de plomo

Marcos de plomo: el eslabón crítico en el ensamblaje de dispositivos semiconductores

Serie P

Dimensiones de la cámara de muestras 12”x13”x5.5” (Ancho x Profundidad x Altura). Incluye platina XY programable (recorrido de 5”x6” a 16”x16”) y múltiples colimadores (4, 8, 12, 24 mil por defecto, opciones personalizadas disponibles). detector SDD estándar en ambos modelos; SDD de ventana grande opcional para tiempos de prueba más rápidos.

Serie W

Dimensiones de la cámara de muestra 22”x24”x11” (Ancho x Profundidad x Altura). Incluye platina XY programable (recorrido 10”x10”) y múltiples colimadores (4, 8, 12, 24mil por defecto, opciones personalizadas disponibles). detector estándar SDD; SDD de ventana grande opcional para tiempos de prueba más rápidos

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¿Necesita analizar características menos de

Serie O

El Bowman Serie O XRF ofrece análisis de funciones pequeñas con una precisión excepcional; la densidad de flujo gana hasta órdenes de magnitud 5 en comparación con el colimador. El sistema está equipado con ventana grande SDD.