Chapado en platino sobre titanio

Propiedades únicas del platino como su alta conductividad, extraordinaria resistencia a la corrosión y a altas temperaturas y voltajes, así como su capacidad para catalizar multitud de reacciones, lo convierten en un material ideal para aplicaciones electroquímicas. Sin embargo, su costo prohibitivo hace que a muchos fabricantes les resulte poco práctico producir ánodos a partir de platino a granel. En consecuencia, se han desarrollado ánodos de platino de menor costo que depositan una fina cantidad de platino sobre un sustrato hecho de un material resistente a la corrosión más económico.

Un ejemplo cada vez más común de estas formulaciones utiliza un sustrato de titanio, aunque también existen otras que utilizan niobio, tantalio, carbono y otras aleaciones. Estos ánodos platinados se prefieren sobre otras alternativas por ser duraderos y capaces de operar a altos voltajes y actualmente se ven en muchas aplicaciones en la investigación y la industria, incluida la protección catódica, la galvanoplastia y los sensores químicos.

Una de las aplicaciones más críticas. Sin embargo, en los últimos años ha sido en la electrólisis de membrana de intercambio de protones (PEM), donde las mallas o fieltros porosos de titanio se platinan para actuar como catalizador y capa de difusión de gas (GDL) para la producción de hidrógeno. Como resultado, se ha invertido mucho en optimizar el proceso para que el producto final sea lo más rentable posible. Sin embargo, la combinación de un depósito delgado y una estructura porosa crea un desafío a la hora de cuantificar con precisión la cantidad de platino en el sustrato, lo que a su vez dificulta que los productores evalúen la eficacia de su proceso.

La fluorescencia de rayos X tiene una respuesta a este problema. Los XRF de Bowman son capaces de medir con exactitud y precisión recubrimientos platinados de hasta unos pocos nanómetros, gracias a límites de detección más bajos y bajo nivel de ruido. XRF se puede utilizar para determinar la carga de depósito promedio en un área y determinar el espesor en un punto específico, con ópticas policapilares que tienen tamaños de punto de hasta 7.5 µm FWHM. Además, XRF tiene tiempos de ciclo mucho más rápidos y una baja preparación de muestras en comparación con técnicas como SEM, capaces de generar resultados en segundos.

Lea nuestra nota de aplicación sobre mallas/pantallas de platino sobre titanio para obtener más información.