Bowman es el primer fabricante de clase mundial, de instrumentos Instrumentos XRF para aplicaciones de semiconductores
Ninguna industria ha evolucionado más que los dispositivos semiconductores. Las demandas de los consumidores de dispositivos más pequeños, más rápidos, más baratos y más confiables requieren rediseños constantes. Bowman ha adaptado y perfeccionado sus estrategias para satisfacer estas demandas.
Bowman tiene 4 modelos diseñados para los entornos de trabajo de las industrias de obleas y embalajes. Estos modelos son las series O, M, W y A. Representan una amplia gama de tamaños de chasis, tamaño de escenario y recorrido de muestra, tamaño de punto de rayos X, cámaras de video y otras características.
Los 3 tienen estas importantes características estándar:
- Geometría de acoplamiento cerrado superior diseño del tubo de rayos X y el detector, que proporciona un recuento de fotones más de tres veces superior al de los equipos de la competencia. Como resultado, los sistemas Bowman logran límites de detección más bajos y mayor precisión con tiempos de medición más cortos.
- Tubo de rayos X robusto ¡El más confiable de la industria! El tubo estable y de larga duración tiene una corriente de filamento más baja. El diseño innovador minimiza la desviación de la posición del punto causada por los cambios de temperatura a lo largo del tiempo.
- Óptica policapilar µ-Spot con un tamaño de haz desde 80 µm hasta 7.5 µm FWHM para análisis de pequeñas características. Alcanza un flujo cien veces mayor que un sistema de colimación a la misma distancia de la fuente.
- Etapa de muestreo programable de alta precisión con una variedad de opciones de tamaño y recorrido que van hasta 600 mm x 600 mm de recorrido y precisión de hasta +/- 1 µm para una medición automatizada rápida y repetible para adaptarse a una amplia gama de tamaños de muestra
- Detector SDD de alto rendimiento con ventana de grafeno para mayor sensibilidad y resolución. Los elementos ligeros como el aluminio y el fósforo son detectables incluso a niveles bajos. Excelente repetibilidad incluso con tiempos de prueba muy cortos.
- Software avanzado es excepcionalmente fácil de usar; una plataforma estable y probada para todos los modelos Bowman.
- Cumplimiento normativo con ASTM B568, DIN 50987, ISO 3497 e IPC 4552/4556
Lea nuestra nota de aplicación sobre aplicaciones de semiconductores aquí: Óptica policapilar para aplicaciones en la industria de semiconductores
Software intuitivo y con muchas funciones
La interfaz del software es lo que permite a los operadores aprovechar al máximo un sistema XRF. Los operadores tienen múltiples tareas que realizar, y luchar con un protocolo de prueba complicado no debería ralentizarlos. Bowman desarrolló el software pensando en el operador, ¡y marca la diferencia!
- La interfaz de usuario más intuitiva de la industria. Diseñado para minimizar los errores, está basado en iconos, con teclas de acceso directo personalizables, visualización y salida de datos flexibles y un generador de informes con un solo clic.
- Acceso completo a funciones sin restricciones. El paquete de software completo se proporciona de forma estándar con cada sistema. Proporciona acceso ilimitado para crear nuevas aplicaciones o recetas; no se requiere software adicional.
- Análisis de espesores de revestimiento, ID de aleación y soluciones Las capacidades están integradas en TODOS los sistemas Bowman para maximizar las capacidades analíticas de XRF. Mida hasta 5 capas de recubrimiento, 30 elementos en cualquier capa e incluso identifique el grado de aleación para la clasificación de metales. Análisis de solución de baño de galvanoplastia es una forma rápida de medir la concentración sin dilución, digestión o titulación.
- Gestión de datos para informes seguros y organizados. Todos los datos se guardan automáticamente con una marca de fecha y hora. Los datos se almacenan localmente y se pueden exportar manual o automáticamente a una carpeta de red, SECS/GEM o sistema SPC. Las plantillas de informes personalizables basadas en Excel y la base de datos con capacidad de búsqueda permiten recuperar y presentar datos fácilmente.
- Enfoque automático láser es el más rápido del mercado. El eje Z alcanza la posición de enfoque en menos de un segundo, evitando la colocación incorrecta de la muestra entre los operadores. Esta función se puede aplicar a programas multipunto para ajustar la deformación sobre la marcha.
- Capacidad de reconocimiento de patrones asegura un centrado perfecto del haz en características muy pequeñas. Las imágenes de características se almacenan y combinan con los ajustes de posición del escenario, lo que permite una programación verdaderamente automatizada con ubicaciones de medición precisas.
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Hecho en USA