XRF para Semiconductores / Obleas

Bowman es el primer fabricante de clase mundial, de instrumentos Instrumentos XRF para Aplicaciones de semiconductores

Detectores SDD

Software intuitivo y con muchas funciones

La interfaz del software es lo que permite a los operadores aprovechar al máximo un sistema XRF. Los operadores tienen múltiples tareas que realizar, y luchar con un protocolo de prueba complicado no debería ralentizarlos. Bowman desarrolló el software pensando en el operador, ¡y marca la diferencia!

  • La interfaz de usuario más intuitiva de la industria. Diseñado para minimizar los errores, está basado en iconos, con teclas de acceso directo personalizables, visualización y salida de datos flexibles y un generador de informes con un solo clic.
  • Acceso completo a funciones sin restricciones. El paquete de software completo se proporciona de forma estándar con cada sistema. Proporciona acceso ilimitado para crear nuevas aplicaciones o recetas; no se requiere software adicional.
  • Análisis de espesores de revestimiento, ID de aleación y soluciones Las capacidades están integradas en TODOS los sistemas Bowman para maximizar las capacidades analíticas de XRF. Mida hasta 5 capas de recubrimiento, 30 elementos en cualquier capa e incluso identifique el grado de aleación para la clasificación de metales. Análisis de solución de baño de galvanoplastia es una forma rápida de medir la concentración sin dilución, digestión o titulación.
  • Gestión de datos para informes seguros y organizados. Todos los datos se guardan automáticamente con un sello de fecha y hora. Los datos se almacenan localmente y se pueden exportar manual o automáticamente a una carpeta de red, SECS / GEM o sistema SPC. Las plantillas de informes personalizables basadas en Excel y la base de datos de búsqueda permiten que los datos se recuperen y presenten fácilmente.
  • Enfoque automático láser es el más rápido del mercado. El eje Z alcanza la posición de enfoque en menos de un segundo, evitando la colocación incorrecta de la muestra entre los operadores. Esta función se puede aplicar a programas multipunto para ajustar la deformación sobre la marcha.
  • Capacidad de reconocimiento de patrones asegura un centrado perfecto del haz en características muy pequeñas. Las imágenes de características se almacenan y combinan con los ajustes de posición del escenario, lo que permite una programación verdaderamente automatizada con ubicaciones de medición precisas.

Folleto de semiconductores Bowman

Descargar

Folleto Bowman Halbleiter

Descargar

¿ Necesita ayuda ?  HABLEMOS ACERCA DE