Slip d'archer

 

 

 

Recertification aux normes Bowman possède de
Délai d’une semaine – le meilleur de l'industrie et disponible dès maintenant.

Vous démarrez une nouvelle ligne de placage ? Les normes de qualité Bowman empêchent le sous-placage et le sur-placage. Voici où vous trouverez des alliages à élément unique, à couches multiples – chaque standard pour chaque application XRF… et chaque Instrument XRF.

 

 

 

 

 

 

 

Analyse des bosses de soudure est le sujet le plus brûlant d’IC. Le nouveau de Bowman Bulletin #15 détaille une étude démontrant l'efficacité des systèmes Bowman pour déterminer rapidement la composition des billes de soudure sur les interconnexions IC.

Analyse du bain de placage était compliqué, lorsque les seules options étaient le titrage, la spectroscopie d’absorption atomique et le plasma à couplage inductif. Plus maintenant. Des résultats de haute précision sont désormais possibles grâce aux techniques Bowman XRF. Bulletin #16 décrit comment.

Demande de nickel chimique épais continuer à grandir. Bulletin 1.1 explique pourquoi les instruments Bowman XRF constituent l’option la meilleure et la plus fiable du secteur pour déterminer l’épaisseur et la composition de ces dépôts.

Placage sur plastiques exige une mesure précise du métal de base et du revêtement de finition. Il y a d'excellentes informations dans Bulletin #17.

 

 

 

 

Ce logiciel XRF phare, lancé au printemps dernier, améliore immédiatement la vitesse, la précision et la flexibilité des tests XRF. Et maintenant, il dispose de plusieurs nouvelles fonctionnalités notables :

Tableview (série L) : Obtenez une vue plongeante sur toute la zone mesurable de la table pour un positionnement rapide lors du déplacement entre les pièces : cliquez sur la pièce et la scène se déplace vers elle !

 

 

 

Programme de pièces : définissez un programme XYZ pour mesurer différentes applications de placage sur les mêmes pièces (ou différentes). Pas besoin de changer manuellement d'application !

Comparez les données historiques et regrouper les données statistiques sur plusieurs sessions.

Nouveaux programmes XYZ circulaires/radiaux sont idéaux pour la cartographie de surface 3D afin d’analyser l’uniformité des plaquettes.

 

 

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