SÉRIE P XRF

La série P offre la flexibilité de mesurer une grande variété de tailles, de formes et de quantités d'échantillons. Il est équipé d'une platine XY programmable de haute précision qui offre plusieurs facteurs de commodité sur une scène fixe. Les opérateurs peuvent utiliser la souris et l'interface logicielle pour se déplacer facilement vers les emplacements de mesure souhaités. Des programmes multi-points peuvent être créés pour mesurer automatiquement plusieurs emplacements d'échantillons en cliquant sur un bouton. Le contrôle Pinpoint est réalisable pour tester les zones critiques. Des volumes d'échantillonnage plus importants sont possibles grâce à la programmation multipoint.

Souvent, la sélection d'un XRF se résume à notre série P - ou Série L. Les performances et les fonctionnalités sont les mêmes ; la taille de la chambre est l'endroit où ils diffèrent. Ce courte vidéo peut vous aider à décider lequel conviendra le mieux à vos exigences de test.

La configuration standard comprend un assemblage de collimateurs multiples à 4 positions et une caméra à focale variable pour la mesure dans les zones en retrait. Les collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisés en fonction de l'application. Un détecteur SDD est inclus, ainsi que notre tube à rayons X micro-focus longue durée.

La série P a été conçue pour tester de grands PCB ou des panneaux plats. il est disponible avec 3 options d'étape d'échantillonnage, en fonction de la taille de vos échantillons. Voyez la différence dans ce courte vidéo.

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Le P Series XRF est le mieux adapté aux clients ayant ces exigences:

  • Petites pièces / caractéristiques telles que des attaches, des connecteurs ou des cartes de circuits imprimés
  • Exigences pour tester plusieurs échantillons ou emplacements par nouveau lot de matériel
  • Désir d'automatiser la mesure sur plusieurs échantillons
  • Variété de tailles d'échantillons et d'applications
  • Garanti pour répondre aux normes IPC-4552 A/B, 4553A, 4554 et 4556
  • ASTM B568, DIN 50987 et ISO 3497
  • Le désir d'améliorer les performances et l'efficacité d'une ancienne XRF - et d'obtenir un généreux bonus de reprise!

Spécifications du produit

Gamme d'élément: Aluminium 13 à l'uranium 92
Excitation par rayons X: 50 W (50kV et 1mA) tube d'anode W micro-focalisé
Détecteur: Détecteur d'état solide en silicium avec résolution 190eV ou mieux
Numéro d'analyse
couches et éléments:
Couches 5 (couches 4 + base) et éléments 10 dans chaque couche avec analyse de la composition d'éléments 25 simultanément
Filtres / Collimateurs: Filtres primaires 4 / Collimateur motorisé 4
Profondeurs focales: Profondeurs focales fixes multiples avec laser
Traitement numérique d'impulsion: Analyseur numérique multicanal 4096 CH avec temps de mise en forme flexible. Traitement automatique du signal, y compris la correction du temps mort et la correction du pic d'échappement
Ordinateur: Intel, processeur CORE i5 3470 (3.2GHz), mémoire 8GB DDR3, Microsoft Windows 10 Prof, équivalent 64-bit
Optique de la caméra: Résolution CMOS-1 × 4 VGA 6/1280 ″ (720 mm)
Grossissement vidéo: Zoom numérique micro 30X et 7X : standard ; 55X Micro : Facultatif
Source de courant: Volts 150W, 100-240, avec plage de fréquence de 47Hz à 63Hz
Poids: 32-50kg
Motorisé standard / Programmable XY: Taille de la table: 381 mm (15 ″) x 340 mm (13 ″) | Débattement: 152 mm (6 ") x 127 mm (5")
Programmable XY étendu: Taille de la table: 635 mm (25 ″) x 635 mm (25 ″) | Débattement: 254 mm (10 ") x 254 (10")
Maintenant disponible avec prolongé option de scène
Dimensions internes: Hauteur: 140 mm (5.5 "), largeur: 310 mm (12"), profondeur: 340 mm (13 ")
Dimensions extérieures: Hauteur: 450 mm (18 ″), Largeur: 450 mm (18 ″), Profondeur: 600 mm (24 ″)

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