La série P offre la flexibilité de mesurer une grande variété de tailles, de formes et de quantités d'échantillons. Il est équipé d'une platine XY programmable de haute précision qui offre plusieurs facteurs de commodité sur une scène fixe. Les opérateurs peuvent utiliser la souris et l'interface logicielle pour se déplacer facilement vers les emplacements de mesure souhaités. Des programmes multi-points peuvent être créés pour mesurer automatiquement plusieurs emplacements d'échantillons en cliquant sur un bouton. Le contrôle Pinpoint est réalisable pour tester les zones critiques. Des volumes d'échantillonnage plus importants sont possibles grâce à la programmation multipoint.

Souvent, la sélection d'un XRF se résume à notre série P - ou Série L. Les performances et les fonctionnalités sont les mêmes ; la taille de la chambre est l'endroit où ils diffèrent. Ce courte vidéo peut vous aider à décider lequel conviendra le mieux à vos exigences de test.

La configuration standard comprend un assemblage de collimateurs multiples à 4 positions et une caméra à focale variable pour la mesure dans les zones en retrait. Les collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisés en fonction de l'application. Un détecteur SDD est inclus, ainsi que notre tube à rayons X micro-focus longue durée.

La série P a été conçue pour tester de grands PCB ou des panneaux plats. il est disponible avec 3 options d'étape d'échantillonnage, en fonction de la taille de vos échantillons. Voyez la différence dans ce courte vidéo.

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