Revêtements métalliques sur substrats de verre

Le verre est un nouveau substrat polyvalent et prometteur présentant des avantages adaptés à de nombreuses applications. Le verre est un matériau stable, plat et lisse, avec une surface sans distorsion. Non seulement il constitue un excellent isolant par rapport aux substrats en céramique et en silicium, mais il présente également un gauchissement moindre, de faibles pertes électriques et une résistance aux changements de température.

Il apparaît comme un substrat populaire pour les emballages électroniques avancés tels que les interposeurs, RDL et TGV ainsi que pour les communications RF et les capteurs optiques et d'imagerie. Pour l'industrie des semi-conducteurs, de nouvelles solutions et améliorations doivent être apportées aux processus tels que la manipulation du verre, le via/métallisation pour adopter pleinement les substrats en verre. L'inspection du verre peut également constituer un défi en raison de sa transparence et de sa surface hautement réfléchissante.

La fluorescence des rayons X (XRF) permet une méthode rapide et fiable pour mesurer avec précision l'épaisseur et la composition des dépôts métalliques sur des substrats en verre. Tous les systèmes XRF de Bowman sont équipés de détecteurs de dérive de silicium (SDD) capables de mesurer des films minces multicouches. De plus, le XRF est non destructif et nécessite un temps de préparation des échantillons minimal, notamment par rapport aux méthodes telles que les coupes transversales et le SEM. Combiné avec l'automatisation du système en option, XRF peut être entièrement intégré aux lignes de production actuelles.

Lisez notre note d’application des revêtements sur verre pour en savoir plus sur les performances de l’application.