Mesure d'épaisseur de revêtement pour chaque utilisation industrielle et de recherche

La mesure de l'épaisseur de revêtement est une exigence pour les fabricants qui appliquent des revêtements sur des pièces métalliques, car les instruments garantissent la qualité, des spécifications précises et des dépenses réduites.

Les instruments de mesure d'épaisseur de revêtement Bowman disposent d'une technologie de détection propriétaire et d'un logiciel avancé qui permet aux systèmes de déterminer également les éléments présents dans l'échantillon. Nos instruments XRF mesurent simultanément jusqu'à cinq couches de revêtement, qui peuvent toutes être des alliages, et peuvent également mesurer des HEAs (revêtements à haute entropie).

Une caméra vidéo à micro-focus, alignée avec l'axe des rayons X, sélectionne la zone sur l'échantillon à mesurer. Un ascenseur contrôlé par un laser de foyer reçoit des échantillons de mesure de hauteurs variables.

Le système de mesure de revêtement Bowman XRF répond aux exigences les plus strictes de l'industrie en matière de précision, de fiabilité et de facilité d'utilisation. Un design compact et ergonomique rend l'analyse pratique pour chaque application, à un prix garanti pour produire un retour sur investissement rapide.

Que voulez accomplir?

Une plus grande précision? Un débit plus rapide? Plus de flexibilité dans la taille de l'échantillon - ou la production?

Parlons.

Configurations pour chaque besoin de mesure

  • Séries G analyse des métaux de transition pour l'industrie des bijoux
  • Séries B pour les petits échantillons électrolytiques
  • Séries P "Multitâche" pour l'électronique, la finition générale, les métaux précieux
  • Séries O grand analyseur de film mince
  • Series M petit analyseur de couches minces avec optique poly capillaire μ-spot
  • Séries L pour les grands échantillons électrolytiques
  • Série W pour mesurer les plus petites caractéristiques de la microélectronique

 

Conception intelligente, analyse puissante
  • Analyse rapide non destructive en quelques secondes
  • Analyse simultanée de la composition d'éléments 25
  • Mesurez simultanément jusqu'à cinq couches de revêtement, qui peuvent toutes être des alliages
  • Analyse fondamentale de l'épaisseur et de la composition des paramètres fondamentaux (FP)
  • Configuration et fonctionnement faciles - une connexion par câble USB
  • Commandes simples du panneau avant
  • Petite empreinte
  • Léger
Interface utilisateur intuitive
  • Conçu pour maximiser la flexibilité et minimiser les erreurs de l'utilisateur
  • Basé sur le framework .Net Xralizer ,progiciel
  • Interface graphique intuitive basée sur des icônes
  • Une analyse qualitative puissante
  • Bibliothèque standard avec rappel de recertification automatique
  • Touches de raccourci personnalisables pour une analyse rapide
  • Affichage et sortie de données flexibles
  • Puissant générateur de rapports
Performance, puissance, commodité
  • Conception géométrique à couplage direct pour une efficacité énergétique et une précision accrues
  • Détecteur à semi-conducteurs éprouvé sur le terrain offrant une résolution, une stabilité et une sensibilité supérieures
  • Temps de préchauffage rapide et durée de vie prolongée du filament du tube à rayons X
  • Analyse en couche mince en L pour Ag, Sn
  • Filtres primaires et collimateurs multiples pour une polyvalence
  • Profondeur focale variable pour des formes d'échantillons complexes et analyse de couches plus épaisses
  • Conception modulaire des composants pour un entretien facile

 

 

Quatre options d'étape d'échantillon

Standard
Base fixe

Programmable étendu
Base XY

Motorisé / programmable
Base XY

Voyage maximum prolongé
Base XY

Haut