Nos systèmes de mesure d'épaisseur de revêtement XRF sont parfaitement adaptés aux connecteurs, dissipateurs thermiques, composants de batterie et autres composants électroniques.
Alors que les appareils électroniques prolifèrent, les fabricants doivent suivre le rythme avec des composants électriques plus rapides, plus fiables et moins coûteux. Bowman a travaillé en étroite collaboration avec les fabricants d'électronique et leurs ateliers de placage pour concevoir une suite d'instruments XRF de paillasse qui mesurent rapidement et précisément des pièces de toutes formes et tailles.
Les composants électroniques continuent de se miniaturiser, il est donc essentiel de faire face à la diminution de la taille des fonctionnalités. Cela signifie que le faisceau de rayons X doit être suffisamment petit pour se concentrer sur de très petites zones. Bowman propose une gamme de tailles de collimateurs ; pour les plus petits composants, il existe plusieurs alternatives d'optique poly-capillaire allant de 7.5 à 80 µm FWHM.
Bowman propose également une gamme de tailles de châssis et d'échantillons d'étage pour s'adapter à une large gamme de tailles de pièces et de volumes de test. Beaucoup de nos clients travaillent avec de très petites pièces telles que des connecteurs à broches, et mesurent également plusieurs échantillons par lot de pièces. Souvent, les luminaires personnalisés présentent de petits échantillons au système XRF.
Tous les XRF Bowman permettent de créer, d'enregistrer et de rappeler des programmes multipoints pour automatiser les tests de plusieurs pièces. Une étape XY programmable et un logiciel de reconnaissance de formes intégré rendent les tests à haut volume efficaces et cohérents.
Les systèmes Bowman utilisent exclusivement la technologie du détecteur de dérive au silicium (SDD). Les SDD offrent la meilleure résolution, le niveau de bruit le plus faible (rapport S/B le plus élevé), la stabilité à long terme et les temps de test les plus courts. Ils peuvent également mesurer le %P directement dans les dépôts de nickel autocatalytique. Combinée au tube à rayons X hautement fiable de Bowman, cette combinaison matérielle est l'une des principales raisons pour lesquelles nos XRF de paillasse offrent les meilleures performances et fiabilité globales.
Les exigences de test des composants électroniques varient dans la mesure où il est difficile d'identifier un modèle qui serait le plus avantageux. Visitez notre page de produits, utilisez notre formulaire de contact, ou appelez-nous, et l'un de nos spécialistes pourra vous recommander l'instrument le plus avantageux pour votre environnement de test et votre budget.
Séries P
Dimensions de la chambre d'échantillon 12"x13"x5.5" (LxPxH). Comprend une platine XY programmable (course de 5"x6" à 16"x16") et plusieurs collimateurs (4, 8, 12, 24mil par défaut, options personnalisées disponibles).
Séries L
Dimensions de la chambre d'échantillon 22"x24"x11" (LxPxH). Comprend une platine XY programmable (course 10"x10") et plusieurs collimateurs (4, 8, 12, 24mil par défaut, options personnalisées disponibles).
Bulletin d'application 3.1 :
Mesure du % P sous placage Au
Une étude importante se concentre sur la nécessité de mesurer le pourcentage de phosphore dans une couche de nickel-phosphore sous l'or. Une mesure précise est essentielle dans la fabrication de cartes de circuits imprimés pour se prémunir contre l'oxydation et améliorer la soudabilité des contacts en cuivre et des vias et trous traversants plaqués.