L'IPC 4552 présente des défis pour les fabricants de PCB qui appliquent des revêtements ENIG sur leurs cartes. En particulier, la nouvelle spécification impose une limite supérieure à la quantité d'or appliquée pour une performance optimale du produit. Cette épaisseur d'or doit être étroitement surveillée et la méthode de mesure acceptée est le test d'épaisseur XRF. Pour mesurer avec précision l'épaisseur de l'or dans cette plage nouvellement définie, il faut du matériel, des logiciels et des normes d'étalonnage XRF spécifiques.

La plupart des fabricants de PCB ont déjà un équipement XRF en place dans le cadre de leur processus de contrôle qualité, mais ils constatent que beaucoup d'anciens instruments ont du mal à répondre aux nouvelles spécifications IPC et peuvent avoir besoin de la dernière technologie XRF. Bowman est la seule entreprise qui garantit que tous ses systèmes XRF répondent aux nouvelles exigences IPC 4552.

Plus précisément, l'IPC exige qu'une étude de performance de l'instrumentation soit effectuée en mesurant des étalons d'épaisseur connue > 30 fois et en rapportant les résultats statistiques. Si le XRF ne répond pas aux exigences d'exactitude et de précision, des bandes de garde doivent être appliquées pour abaisser davantage la plage de tolérance d'épaisseur, ce qui impose une charge supplémentaire aux opérateurs du processus de placage.

Tous les systèmes Bowman ont été éprouvés et garantis pour atteindre et dépasser les exigences de l'étude de jauge, il n'y a donc aucune inquiétude quant aux changements dans le processus de placage. Ce haut niveau de performance est rendu possible par l'utilisation exclusive par Bowman de la technologie du détecteur de dérive au silicium (SDD), la meilleure disponible pour les instruments XRF. Les SDD fournissent également une mesure directe du %P dans les dépôts de nickel autocatalytique, ce qui fournit des informations plus à jour sur le bain de placage et offre une cohérence encore plus grande dans la surveillance de l'épaisseur du placage.

Bowman propose deux types de SDD. Le SDD standard est fourni avec chaque système Bowman et offre des performances nettement meilleures par rapport aux détecteurs à compteur proportionnel («prop counter») ou aux détecteurs PIN. Nous proposons également une option de mise à niveau SDD en graphène à grande fenêtre qui améliore les performances globales, minimise les temps de test (c'est-à-dire <10 s avec un collimateur de 24 mil pour répondre aux exigences de la jauge) et offre une sensibilité encore plus grande aux éléments « légers » pour des éléments tels que le phos. Ces fonctionnalités exclusives et notre réseau d'assistance local de premier ordre constituent un argument puissant pour choisir Bowman pour votre prochain achat d'instrument XRF.