XRF pour les cadres de plomb

Trames de plomb : le lien critique dans l'assemblage de dispositifs semi-conducteurs

Séries P

Dimensions de la chambre d'échantillon 12"x13"x5.5" (LxPxH). Comprend une platine XY programmable (course de 5"x6" à 16"x16") et plusieurs collimateurs (4, 8, 12, 24mil par défaut, options personnalisées disponibles). Détecteur SDD standard sur les deux modèles ; SDD à grande fenêtre en option pour des temps de test plus rapides.

Série W

Dimensions de la chambre d'échantillon 22"x24"x11" (LxPxH). Comprend une platine XY programmable (course 10"x10") et plusieurs collimateurs (4, 8, 12, 24mil par défaut, options personnalisées disponibles). Norme de détecteur SDD ; SDD à grande fenêtre en option pour des temps de test plus rapides

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Avez-vous besoin d'analyser des fonctionnalités de moins de

Séries O

Le Bowman Série O XRF fournit une analyse de petites entités avec une précision exceptionnelle; gain de densité de flux jusqu'à des ordres de grandeur 5 par rapport au collimateur. Le système est équipé de grande fenêtre SDD.