Bowman vient de publier un bulletin d'applications très attendu détaillant la capacité de ses instruments de table XRF à mesurer avec précision les finitions métallisées en aluminium PVD. Ces finitions sont devenues très demandées pour
diverses applications dans l'industrie automobile et ailleurs, qui nécessitent des revêtements fonctionnels ultra-fins.
Le procédé PVD dépose une couche de matériau haute densité de quelques nanomètres d'épaisseur. Les XRF Bowman mesurent avec précision l'aluminium PVD, ainsi que le chrome PVD, à la fois en tant que matériau pur ou alliage. La plage d'épaisseur efficace est de 10 à 100 nm, sur un substrat en ABS ou en silicium.
Cette capacité est rendue possible en partie par le grand détecteur de dérive en silicium de Bowman. Les « SDD » offrent la meilleure résolution, le niveau de bruit le plus faible (rapport S/N le plus élevé) et les temps de test les plus courts.
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