Placage platine sur titane

Les propriétés uniques du platine tels que sa conductivité élevée, son extraordinaire résistance à la corrosion et aux températures et tensions élevées, ainsi que sa capacité à catalyser de nombreuses réactions, en font un matériau idéal pour les applications électrochimiques. Son coût prohibitif rend cependant difficile pour de nombreux fabricants de produire des anodes à partir de platine en vrac. Par conséquent, des anodes en platine moins coûteuses ont été développées, qui déposent une fine quantité de platine sur un substrat fabriqué à partir d'un matériau résistant à la corrosion moins cher.

Un exemple de plus en plus courant de ces formulations utilise un substrat en titane, bien qu'il en existe d'autres utilisant du niobium, du tantale, du carbone et d'autres alliages. Ces anodes platinées sont préférées à d'autres alternatives en raison de leur durabilité et de leur capacité à fonctionner à haute tension. Elles sont actuellement utilisées dans de nombreuses applications dans la recherche et l'industrie, notamment la protection cathodique, la galvanoplastie et les capteurs chimiques.

L'une des applications les plus critiques ces dernières années, cela s'est produit dans l'électrolyse à membrane échangeuse de protons (PEM), où des mailles ou des feutres poreux en titane sont platinés pour agir à la fois comme catalyseur et comme couche de diffusion gazeuse (GDL) pour la production d'hydrogène. En conséquence, beaucoup d’investissements ont été investis dans l’optimisation du processus afin de rendre le produit final aussi rentable que possible. Cependant, la combinaison d'un dépôt mince et d'une structure poreuse crée un défi pour quantifier avec précision la quantité de platine sur le substrat, ce qui rend difficile pour les producteurs d'évaluer l'efficacité de leur procédé.

La fluorescence X a une réponse à ce problème. Les Bowman XRF sont capables de mesurer avec précision les revêtements platinés jusqu'à quelques nanomètres, grâce à des limites de détection plus basses et un faible bruit. XRF peut être utilisé à la fois pour déterminer la charge moyenne du dépôt sur une zone et pour déterminer l'épaisseur en un point spécifique, avec des optiques polycapillaires ayant des tailles de spot allant jusqu'à 7.5 µm FWHM. De plus, le XRF a des temps de cycle beaucoup plus rapides et une faible préparation des échantillons par rapport aux techniques telles que le SEM, capable de générer des résultats en quelques secondes.

Lisez notre note d'application sur les mailles/écrans platine sur titane pour en savoir plus.