XRF pour les cartes de circuits imprimés

Analyse de l'épaisseur du revêtement PCB est la spécialité de Bowman depuis la fondation de l'entreprise sous le nom de CMI dans les années 1980.

Bowman garantit que TOUS ses systèmes XRF respectent et dépassent les exigences de capacité de jauge définies dans IPC-4552 rev A&B. Les systèmes Bowman utilisent exclusivement la technologie du détecteur de dérive au silicium (SDD) pour les meilleures performances globales.

Série P avec base

Séries P

Platine XY programmable (course de 5"x6" à 16"x16"), plusieurs collimateurs (4, 8, 12, 24mil par défaut, options personnalisées disponibles), chambre à fentes pour accueillir des panneaux de toutes tailles. Norme de détecteur SDD ; SDD à grande fenêtre en option pour des temps de test plus rapides.

Séries B

Séries B

Base fixe pour le positionnement manuel des fonctions, collimateur unique (ensemble multi-collimateur en option), chambre à fentes pour accueillir des panneaux de toutes tailles. Norme de détecteur SDD ; SDD à grande fenêtre en option pour des temps de test plus rapides.

En savoir plus sur nos données de conformité et de performance pour IPC 4552, et contactez-nous pour en savoir plus sur les tests de PCB à l'aide de XRF.