Az XRF nagyon érzékeny a fémes elemekre, különösen a periódusos rendszerben a Ti-U-tól kezdve. A bevonat vastagságának elemzéséhez az XRF bármilyen fémes vagy nemfémes hordozóra felvihető, egy- vagy többrétegű.
Az ötvözetelemzéshez az XRF meg tudja határozni az egyes ötvözőelemek százalékos összetételét, és azonosítani tudja az ötvözet minőségének jelölését. Az oldatok elemzéséhez a bevonófürdőben lévő fémionok mennyiségileg meghatározhatók a folyamatszabályozás érdekében.
A Bowman rendszer legfontosabb jellemzői
- Roncsolásmentes vizsgálat minimális minta-előkészítéssel
- Gyors elemzés – az adatok másodpercek alatt elérhetők
- Olcsó működés: kezdő kezelők is futtathatják elkötelezett tudós nélkül
- A sokoldalú technika különféle típusú mátrixmintákat képes fogadni
- Kis foltelemzés mikrojellemzők kimutatására nagy mintán
- A legtöbb fémelem egyidejű elemzése
- Széles körben elfogadott ipari hitelesítési vizsgálati módszer
Hasonlítsa össze a röntgen-fluoreszcens műszerekben használt különböző detektortechnológiákat
Gázzal töltött prop számláló érzékelő
- Magas alapszintű zaj
- Gyenge felbontás
- Instabil a hőmérséklet és a páratartalom változásával
- Gyakori újrakalibrálást igényel
Szilícium PIN dióda érzékelő
- Alacsony zajszint
- Nagy felbontású
- Nagy észlelési határok
- Peltier hűtés: nagyon stabil – nincs klímahatás
Silicon Drift Detector (SDD)
- A legalacsonyabb alapszintű zaj
- Legmagasabb számok észlelése
- Legnagyobb felbontás
- Legjobb észlelési határok
- Legnagyobb sokoldalúság a legszélesebb elemválasztékhoz
- Peltier hűtés: nagyon stabil – nincs klímahatás
Minden Bowman XRF műszer szilícium drift érzékelőt használ a legnagyobb felbontás, a legalacsonyabb zajszint és a legnagyobb általános stabilitás érdekében.
Ez biztosítja a lehető legpontosabb bevonatvastagság mérést és elemanalízist.
Made in USA