M SOROZAT XRF

Az M sorozat a legnagyobb teljesítményű bevonatvastagság mérése a legkisebb jellemzők számára. Az M sorozat polikapilláris optikája fejlettebb, mint a O sorozat, a röntgensugarat 7.5 μm FWHM-re fókuszálja. Az ezen a skála jellemzőinek mérésére egy 140-szeres nagyítású, még nagyobb digitális zoommal rendelkező kamera is található. A látómező nagyobb nagyítással szűkebb lesz, így egy második kamera makroképet készít a mérendő részről. A kétkamerás rendszer lehetővé teszi a kezelők számára, hogy a teljes részt láthassák, a képre kattintva a nagy méretű kamerával nagyítsanak, és pontosan meghatározzák a mérendő jellemzőt.

A nagy pontosságú programozható XY tárgyasztal több pont kiválasztására és mérésére használható; a mintafelismerő szoftver ezt automatikusan is meg tudja tenni. Létezik egy kétdimenziós leképezési rendszer, amellyel megtekinthető a bevonat topográfiája egy alkatrész, például egy szilíciumlapka felületén.

A standard konfiguráció tartalmazza a 7.5 μm-es optikát és a nagy felbontású SDD detektort a nagyobb számlálási sebességek feldolgozásához. A programozható XY mintafokozat szintén alapfelszereltség. Az optikai rendszer közeli gyújtótávolságú, ezért az M sorozattal mért mintáknak síknak kell lenniük.

Most bővített színpadi opcióval is elérhető

Alkalmazás teljesítménye

ENEPIG Elektromos nikkel
μm Au μm Pd μm Ni μm NiP μm %P
Ave 0.043 0.08 3.72 10.202 10.17
StdDev 0.0005 0.0009 0.00010 0.1089 0.29
Választék 0.0015 0.0030 0.040 0.3863 0.9900
%RSD 1.05% 1.13% 0.03% 1.07% 2.85%

 

Kérdések? Demót szeretnél? Érdekel egy csere?

            Az M sorozatú XRF a legjobban megfelel az alábbi követelményeknek:

            • Nagyon kicsi alkatrészek/jellemzők, mint például a félvezetőkben, csatlakozókban vagy PCB-kben találhatók
            • Új anyagtételenként sok minta vagy helyszín vizsgálatának követelménye
            • Nagyon vékony bevonatok (<100nm)
            • Nagyon rövid mérési idők (1-5 másodperc)
            • Garantáltan megfelel az IPC-4552 A/B, 4553A, 4554 és 4556 szabványoknak
            • ASTM B568, DIN 50987 és ISO 3497
            • A vágy egy régi XRF teljesítményének és hatékonyságának javítására – és bőkezű cserebónuszt kap!

            A termékek műszaki

            Röntgen gerjesztés: 50 W Mo cél Flex-beam kapilláris optika @ 15 FWHM 17 KeV
            Detektor: Szilícium drift detektor 135eV felbontással
            Az elemzés száma
            rétegek és elemek:
            5 réteg (4 réteg + alap) és 10 elem minden rétegben, akár 25 elem egyidejű összetétel-elemzésével
            Szűrők/kollimátorok: 4 elsődleges szűrő
            Kimeneti fókuszmélység: Rögzítve: 0.15 hüvelyk (3.81 mm)
            Digitális impulzus feldolgozás: 4096 CH digitális többcsatornás analizátor rugalmas alakítási idővel Automatikus jelfeldolgozás, beleértve a holtidő korrekciót és a kilépési csúcs korrekciót
            Számítógép: Intel, CORE i5 3470 processzor (3.2 GHz), 8 GB DDR3 memória, Microsoft Windows 10 Prof, 64 bites megfelelő
            Kamera optika: 1/4 hüvelykes (6 mm) CMOS-1280×720 VGA felbontás, 250X kettős kamerával vagy 45X egyetlen kamerával 381 mm-es (15 hüvelykes) képernyőn
            Videó nagyítása: 140X mikro, 7X digitális zoom, 9X makró és asztali nézet
            Tápegység: 150 W, 100-240 volt, 47 Hz és 63 Hz közötti frekvenciatartományban
            Munkakörnyezet: 68 °C (20 °F) és 77 °C (25 °F) közötti hőmérséklet és akár 98% relatív páratartalom, nem lecsapódó
            Súlya: 70kg
            Programozható XY: Asztal mérete: 431 mm (17″) x 406 mm (16″) | Utazás: 165 mm (6.5 hüvelyk) x 165 mm (6.5 hüvelyk) nagy pontosságú
            Most elérhető kiterjedt színpadi lehetőség
            Belső méretek: Magasság: 137 mm (5.4 hüvelyk), szélesség: 310 mm (12 hüvelyk), mélység: 340 mm (13 hüvelyk)
            Külső méretek: Magasság: 500 mm (20"), szélesség: 450 mm (18"), mélység: 600 mm (24")

            Konkrét kérdése van felénk?

            Kapcsolatfelvétel