M sorozatú XRF
Az M sorozat a legnagyobb teljesítményű bevonatvastagság mérése a legkisebb jellemzők számára. Az M sorozat polikapilláris optikája fejlettebb, mint a O sorozat, a röntgensugarat 7.5 μm FWHM-re fókuszálja. Az ezen a skála jellemzőinek mérésére egy 140-szeres nagyítású, még nagyobb digitális zoommal rendelkező kamera is található. A látómező nagyobb nagyítással szűkebb lesz, így egy második kamera makroképet készít a mérendő részről. A kétkamerás rendszer lehetővé teszi a kezelők számára, hogy a teljes részt láthassák, a képre kattintva a nagy méretű kamerával nagyítsanak, és pontosan meghatározzák a mérendő jellemzőt.
A nagy pontosságú programozható XY tárgyasztal több pont kiválasztására és mérésére használható; a mintafelismerő szoftver ezt automatikusan is meg tudja tenni. Létezik egy kétdimenziós leképezési rendszer, amellyel megtekinthető a bevonat topográfiája egy alkatrész, például egy szilíciumlapka felületén.
A standard konfiguráció tartalmazza a 15 μm-es optikát és egy nagy felbontású LSDD detektort a nagyobb számlálási sebességek feldolgozásához. A programozható XY mintafokozat szintén alapfelszereltség. Az optikai rendszer közeli gyújtótávolságú, ezért az M sorozattal mért mintáknak síknak kell lenniük.
Most bővített színpadi opcióval is elérhető
Alkalmazás teljesítménye
| ENEPIG | Elektromos nikkel | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| μm Au | μm Pd | μm Ni | μm NiP | μm %P | |
| Ave | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| StdDev | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| Választék | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| %RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
Kérdések? Demót szeretnél? Érdekel egy csere?
Az M sorozatú XRF a legjobban megfelel az alábbi követelményeknek:
- Nagyon kicsi alkatrészek/jellemzők, mint például a félvezetőkben, csatlakozókban vagy PCB-kben találhatók
- Új anyagtételenként sok minta vagy helyszín vizsgálatának követelménye
- Nagyon vékony bevonatok (<100nm)
- Nagyon rövid mérési idők (1-5 másodperc)
- Garantáltan megfelel az IPC-4552, 4553, 4554 és 4556 szabványoknak
- ASTM B568 és ISO 3497
- A vágy egy régi XRF teljesítményének és hatékonyságának javítására – és bőkezű cserebónuszt kap!
termékleírás
| Röntgen gerjesztés: | 50 W-os W-cél kapilláris optika 15 µm FWHM-nél 17 KeV-on Választható: Cr, Mo vagy Rh |
| Detektor: | Nagy ablakú, 190eV-os vagy jobb felbontású, szilikon elsodródott detektor |
| Az elemzés száma rétegek és elemek: |
5 réteg (4 réteg + alap) és 10 elem minden rétegben, akár 30 elem egyidejű összetétel-elemzésével |
| Szűrők: | 4 elsődleges szűrő |
| Kimeneti fókuszmélység: | Rögzítve: 0.15 hüvelyk (3.81 mm) |
| Digitális impulzus feldolgozás: | 4096 CH digitális többcsatornás analizátor rugalmas alakítási idővel Automatikus jelfeldolgozás, beleértve a holtidő korrekciót és a kilépési csúcs korrekciót |
| Számítógép: | Intel CORE i5 9. gen. asztali processzor, szilárdtest merevlemez, 16 GB RAM, Microsoft Windows 11 Professional 64 bites megfelelője |
| Kamera optika: | 1/4 hüvelykes (6 mm) CMOS-1280×720 VGA felbontás, 250X kettős kamerával vagy 45X egyetlen kamerával 381 mm-es (15 hüvelykes) képernyőn |
| Videó nagyítása: | 140X mikro, 7X digitális zoom, 9X makró és asztali nézet |
| Tápegység: | 150 W, 100-240 volt, 47 Hz és 63 Hz közötti frekvenciatartományban |
| Munkakörnyezet: | 68 °C (20 °F) és 77 °C (25 °F) közötti hőmérséklet és akár 98% relatív páratartalom, nem lecsapódó |
| Súlya: | 70kg |
| Programozható XY: | Asztal mérete: 432 mm (17″) x 406 mm (16″) | Utazás: 165 mm (6.5 hüvelyk) x 165 mm (6.5 hüvelyk) nagy pontosságú |
| Maximális kiterjesztett programozható XY: | Asztal mérete: 813mm (32")x 781mm (30.75")| Utazás: 406 mm (16 hüvelyk) x 406 mm (16 hüvelyk) Most elérhető max meghosszabbítva színpadi lehetőség |
| Belső méretek: | Magasság: 137 mm (5.4 hüvelyk), szélesség: 305 m (12 hüvelyk), mélység: 330 mm (13 hüvelyk) |
| Külső méretek: | Magasság: 508 mm (20"), szélesség: 457 mm (18"), mélység: 610 mm (24") |
Made in USA