A W sorozatú Micro XRF polikapilláris optikát használ a röntgensugár 7.5 µm FWHM-re fókuszálására, amely a világ legkisebb nyalábmérete az XRF technológiát alkalmazó bevonatvastagság-elemzéshez. Ez ideálissá teszi a minták, például a BGA-k és a kisebb forrasztási dudorok mérésére. Egy 140-szeres nagyítású kamerát használnak az adott skála jellemzőinek mérésére; egy másodlagos, kis nagyítású kamerával van kiegészítve az élőkép-megtekintéshez és a madártávlatból készült makróképalkotáshoz. A Bowman kétkamerás rendszere lehetővé teszi a kezelők számára, hogy a teljes részt láthassák, a képre kattintva nagyítsa ki a nagy méretű kamerát, és pontosan meghatározza a programozandó és mérendő funkciót.

Egy programozható XY fokozat, amely tengelyenként +/- 1 µm-nél kisebb pontossággal használható több pont kiválasztására és mérésére; A Bowman mintafelismerő szoftver és az autofókusz funkciók szintén automatikusan ezt teszik. A rendszer 3D-s leképezési képessége felhasználható egy alkatrész, például szilíciumlapka bevonatának topográfiájának megtekintésére.

A W sorozatú műszerek standard konfigurációja 7.5 µm-es optikát tartalmaz molibdén anódcsővel (a króm és a wolfram opcionális) és egy nagy felbontású, nagy ablakú szilícium elsodródásérzékelőt, amely másodpercenként több mint 2 millió számlálást dolgoz fel.

A W sorozatú Micro XRF a 7. modell a Bowman XRF műszercsomagjában. A portfólió többi részéhez hasonlóan ez egyidejűleg akár 5 bevonatréteget is mér, és fejlett Archer szoftvert futtat, hogy számszerűsítse a bevonat vastagságát az észlelt fotonokból. Az Archer szoftver az intuitív vizuális vezérlést időtakarékos parancsikonokkal, kiterjedt keresési lehetőségekkel és „egy kattintással” történő jelentéskészítéssel egyesíti. A szoftver emellett leegyszerűsíti az új alkalmazások létrehozását.

Kérdések? Demót szeretnél? Érdekel egy csere?