Bevonatvastagság mérése minden ipari és kutatási célra

A bevonatvastagság mérése követelmény a fém alkatrészekre bevonatoló gyártók számára, mivel a műszerek biztosítják a minőséget, a pontos specifikációkat és takarékoskodnak a kiadásokkal.

A Bowman bevonatvastagság-mérő műszerek szabadalmaztatott észlelési technológiával és fejlett szoftverrel rendelkeznek, amely lehetővé teszi a rendszerek számára a mintában lévő elemek meghatározását is. XRF műszereink egyidejűleg akár öt bevonatréteget is mérnek, amelyek mindegyike lehet ötvözet, és képesek a HEA-k (nagy entrópiájú bevonatok) mérésére is.

A röntgenoptikai tengelyhez igazított mikrofókuszú videokamera kiválasztja a mérendő területet a mintán. A fókuszlézerrel vezérelt lift különböző magasságú mérési mintákat fogad.

A Bowman XRF bevonatmérő rendszer megfelel az iparág legszigorúbb precizitási, megbízhatósági és könnyű használhatósági követelményeinek. A kompakt, ergonomikus kialakítás kényelmessé teszi az elemzést minden alkalmazáshoz – olyan áron, amely garantáltan gyors ROI-t eredményez.

Mit akarsz elérni?

Nagyobb pontosság? Gyorsabb átvitel? Nagyobb rugalmasság a minta méretében – vagy a kimenetben?

Beszéljünk.

Konfigurációk minden mérési igényhez

  • G sorozat átmeneti fémek elemzése az ékszeripar számára
  • B sorozat kis galvanizált mintákhoz
  • P sorozat „multi-tasker” elektronikához, általános kikészítéshez, nemesfémekhez
  • O sorozat nagy vékonyréteg-elemző
  • M sorozat kis vékonyréteg-analizátor µ-pont poli kapilláris optikával
  • L sorozat nagy galvanizált mintákhoz
  • W sorozat a mikroelektronika legkisebb jellemzőinek mérésére

 

Intelligens tervezés, hatékony elemzés
  • Gyors, roncsolásmentes elemzés másodperceken belül
  • Akár 25 elem egyidejű összetételelemzése
  • Egyszerre akár öt bevonatréteget is mérhet, amelyek mindegyike lehet ötvözet
  • Alapvető paraméterek (FP) által vezérelt, szabvány nélküli vastagság- és összetételelemzés
  • Egyszerű beállítás és kezelés – egyetlen USB-kábel csatlakozás
  • Egyszerű előlapi kezelőszervek
  • Kis lábnyom
  • Könnyűsúlyú
Intuitív felhasználói felület
  • Úgy tervezték, hogy maximalizálja a rugalmasságot és minimalizálja a felhasználói hibákat
  • .Net keretrendszer alapú Xralizer szoftver
  • Intuitív, ikonvezérelt grafikus felület
  • Hatékony kvalitatív elemzés
  • Szabványos könyvtár automatikus újratanúsítási emlékeztetővel
  • Testreszabható gyorsbillentyűk a gyors elemzéshez
  • Rugalmas adatmegjelenítés és kimenet
  • Erőteljes jelentéskészítő
Teljesítmény, teljesítmény, kényelem
  • Szoros csatolású geometriai kialakítás a nagyobb energiahatékonyság és pontosság érdekében
  • A helyszínen bevált, szilárdtest detektor nagyobb felbontást, stabilitást és érzékenységet biztosít
  • Gyors felmelegedési idő és hosszabb a röntgencső izzószál élettartama
  • L vonal vékonyréteg-elemzés Ag, Sn
  • Több elsődleges szűrő és kollimátor a sokoldalúság érdekében
  • Változtatható fókuszmélység az összetett mintaformákhoz és a vastagabb réteganalízishez
  • Moduláris komponens kialakítás az egyszerű karbantartás érdekében

 

 

Négy minta színpadi lehetőség

Standard
Fix alap

Bővített programozható
XY alap

Motoros/programozható
XY alap

Maximális utazás meghosszabbítva
XY alap

felső