GYIK

A Bowman XRF rendszerek intuitív SW interfésszel rendelkeznek, amely egyesíti a vizuális vezérlést időtakarékos parancsikonokkal, rugalmas keresési lehetőséggel és az iparág egyetlen igazi „egy kattintással” jelentéskészítőjével. Van egy beépített kereshető adatbázisunk is, amely automatikusan tárolja a leolvasásokat. Egy másik funkció, amely először az O sorozatú műszereknél érhető el, és jelenleg más modelleken is elérhető, az Auto Focus HRS. Ez az egyedülálló funkció tökéletes fókuszálást biztosít olyan erősen tükröződő felületekre, amelyek lézeres és más hagyományos fókuszálási módszereknél nehézkesek vagy lehetetlenek.

A Bowman rendszerek „3 az egyben” XRF-ek, amelyek vastagságmérést, elemanalízist és bevonatoldat elemzést biztosítanak. Az utolsó esetben a bevonóoldatot úgy mérik, hogy meghatározott mennyiségű oldatot öntenek egy speciális cellába. A Bowman rendszerek egyidejűleg akár 24 elemet is elemeznek.

Bármely Bowman XRF egységet biztonságosan folyamatosan bekapcsolva tarthat. Ha problémája van az energiaellátással a létesítményben, érdemes lehet szünetmentes tápegységet is megfontolni. Az Ön minőségi laborjában minden meghajtású műszer profitál ebből – kisebb és nagyobb mértékben. Nagy előnye a stabilitás, amely folyamatos teljesítmény mellett mindig nagyobb lesz. A viszonylag csekély előnyre példa a műszerlámpák várható élettartama.

A Bowman robusztus helyi szervizhálózattal rendelkezik, amely minden asztali XRF rendszert támogat minden ügyfélhelyen, legyen szó Bowmanről vagy Fischer, Hitachi / Oxford, Seiko vagy CMI rendszerről. Alkalmazási tanácsadást, műszertelepítést és kezelői képzést, szervizt és javítást, valamint fóliákat és keménylemezes szabványokat kínálunk minden XRF berendezéshez és alkalmazáshoz. Az XRF-kalibrációt a Bowman ISO/IEC 17025 akkreditált laboratóriuma végzi.

Területi partnereink vannak Indianapolisban, Fort Wayne-ben és Evansville-ben (valójában minden nagyobb amerikai városban!), és megkérhetnénk egy XRF-szakértőt, hogy látogassa meg a laborját, és elmagyarázza Önnek (és kollégáinak, ha úgy tetszik), hogyan működik a technológia. különbségek az XRF rendszerekben stb. Ha érdekli, írjon nekünk a következő címre: sales@bowmanxrf.com.

A P sorozat a legkülönfélébb formákat, mintaméreteket és mennyiségeket méri. Nagy pontosságú, programozható XY tárgyasztallal van felszerelve, amely számos kényelmi tényezőt kínál egy fix színpadon. A kritikus területek teszteléséhez pontos vezérlés érhető el, többpontos programozással pedig nagyobb mintavételi mennyiség is lehetséges.

A Bowman XRF bevonatmérő rendszerek megfelelnek az ASTM B568, DIN 50987 és ISO 3497 szabványoknak. Félvezető, lapka és NYÁK vevőink számára a Bowman berendezés IPC 4552 A/B képes. A Bowman labor ISO/IEC 17025 akkreditációval rendelkezik a kalibráláshoz.

Az O sorozat a nagy teljesítményt a kis röntgenfolt-mérettel ötvözi. A standard konfiguráció 80 μm-es optikát tartalmaz, valamint egy nagy felbontású SDD detektort, amely nagy számlálási sebességet képes feldolgozni. A kamera nagyobb nagyítással rendelkezik a többi XRF-hez képest, 45-szörös videó nagyítással és 5-szörös digitális zoommal.

A Bowman M sorozata a végső XRF műszer a legkisebb röntgenfolt méretekhez, és a röntgensugarat 15 μm FWHM-re fókuszálja. A kétkamerás rendszer lehetővé teszi a kezelők számára, hogy a teljes részt láthassák, a képre kattintva a nagyobb méretű kamerával nagyítsanak, és pontosan meghatározzák a mérendő jellemzőt.

A Poly-capillary Optics egy olyan fókuszáló technológia, amely sok XRF műszerben helyettesíti a kollimátor szerelvényt. A rendszer több mint százszor nagyobb fluxust ér el, mint egy kollimációs rendszer a forrástól azonos távolságban. A polikapilláris optika lehetővé teszi, hogy a csőből érkező röntgensugár szinte mindegyike elérje a mintát, ami sokkal nagyobb érzékenységet eredményez a nagyon kis alkatrészek vagy vékony bevonatok tesztelésekor.

A szilícium PIN dióda detektorok jobb spektrális felbontást biztosítanak, mint a prop számlálók (elterjedt, régebbi technológia), így a kezelők vékonyabb lerakódásokat és alacsonyabb elemkoncentrációkat mérhetnek. A szilikon PIN-érzékelők alacsony zajszintűek, kiváló felbontással és érzékelési határértékekkel rendelkeznek. A szilícium drift detektorok – SDD-k – nagyobb számlálási sebességet produkálnak, és magasabb spektrális felbontásúak – jellemzően 50%-kal nagyobb, mint a PIN-dióda detektorok. Ezek rendelkeznek a legalacsonyabb alapszintű zajjal és a legjobb észlelési határokkal.

Az XRF analizátorok röntgenfluoreszcens technológiát használnak az elemanalízishez. Alkalmazhatók fémbevonat vastagságának és elemösszetételének mérésére. Az XRD analizátorok röntgendiffrakciós technológiát alkalmaznak a kristályos anyagok atomi és molekulaszerkezetének mérésére. Alkalmazhatók vegyületek azonosítására és jellemzésére diffrakciós mintázata alapján.

A 22” x 24”-es alkatrészek befogadására alkalmas L sorozatú kamratérfogat kategóriájában a legnagyobb. A nagy mintafelület lehetővé teszi a nagy alkatrészek és a több alkatrészt tartó nagy mintatartók mérését.

A Bowman XRF analizátorok röntgenfluoreszcens technológiát használnak az anyagvastagság és összetétel elemzésére. A röntgen az elektromágneses sugárzás egyik formája, amelynek frekvenciája az ultraibolya és a gamma sugárzás között van. A röntgen-fluoreszcencia a fotoelektromos kölcsönhatáshoz kapcsolódik. Amikor fotoelektromos kölcsönhatás lép fel, egy elektron kiesik a pályájáról, üresedést hozva létre. A magasabb energiájú pályákról érkező elektronok mozoghatnak, hogy betöltsék ezt az üresedést. A két pálya közötti energiakülönbség fluoreszcens röntgensugárzás formájában szabadul fel. Az egyes elemekből származó fluoreszcens röntgensugarak jellemző energiával rendelkeznek, és ezt jellegzetes röntgensugárzásnak nevezik.