Az IPC 4552 kihívás elé állítja azokat a NYÁK-gyártókat, akik ENIG bevonattal látják el a tábláikat. Az új specifikáció különösen felső határt szab a termék optimális teljesítménye érdekében felhasznált arany mennyiségére. Ezt az aranyvastagságot szorosan ellenőrizni kell, és az elfogadott mérési módszer az XRF vastagságvizsgálat. Az aranyvastagság pontos méréséhez ebben az újonnan meghatározott tartományban speciális XRF hardver, szoftver és kalibrációs szabványok szükségesek.

A legtöbb NYÁK-gyártó már rendelkezik XRF-berendezéssel a minőségellenőrzési folyamat részeként, de azt tapasztalják, hogy sok régebbi műszer nehezen teljesíti az új IPC-specifikációs követelményeket, és szükség lehet a legújabb XRF-technológiára való frissítésre. A Bowman az egyetlen cég, amely garantálja, hogy minden XRF rendszere megfelel az új IPC 4552 követelményeinek.

Pontosabban, az IPC előírja, hogy egy mérőműszer-teljesítmény-vizsgálatot végezzenek ismert vastagságú standardok > 30-szoros mérésével és a statisztikai eredmények jelentésével. Ha az XRF nem felel meg a pontossági és precizitási követelményeknek, védőszalagokat kell alkalmazni a vastagság tűréstartományának további csökkentése érdekében, ami nagyobb terhet ró a bevonási folyamat kezelőire.

Minden Bowman rendszer bizonyítottan megfelel, és garantáltan megfelel a mérőeszköz-tanulmányozási követelményeket, így nincs aggodalom a lemezezési folyamat változásai miatt. Ezt a magas szintű teljesítményt a Bowman kizárólagos szilícium-driftdetektor (SDD) technológiája tette lehetővé, amely az elérhető legjobb XRF műszerek számára. Az SDD-k emellett közvetlen %P mérést tesznek lehetővé az elektromentes nikkellerakódásokban, ami naprakészebb információkat nyújt a bevonatfürdőről, és még nagyobb következetességet biztosít a bevonat vastagságának ellenőrzésében.

A Bowman kétféle SDD-t kínál. A szabványos SDD minden Bowman rendszerhez tartozik, és lényegesen jobb teljesítményt nyújt az arányos számláló ("prop számláló") detektorokhoz vagy PIN detektorokhoz képest. Kínálunk egy nagy ablakú grafén SDD frissítési lehetőséget is, amely javítja az általános teljesítményt, minimalizálja a tesztidőt (azaz <10 másodpercnél 24 miliás kollimátorral a mérőműszer követelményeinek teljesítéséhez), és még nagyobb „fény” elemérzékenységet biztosít az olyan elemek számára, mint a phos. Ezek az exkluzív funkciók és a kategóriájában legjobb helyi támogatási hálózatunk jó okot ad a Bowman kiválasztásához a következő XRF műszervásárláshoz.