Az SDD-k biztosítják a legjobb felbontást, legalacsonyabb zajszint (legmagasabb S/N arány), hosszú távú stabilitás és legrövidebb tesztidő. Közvetlenül elektromentes nikkellerakódásokban is mérik a %P-t. A Bowman rendkívül megbízható röntgencsövével kombinálva ez a hardverduó szilárd magot képvisel minden általunk kínált XRF rendszerben.

Akár ENIG, ENEPIG, HASL, elektromentes nikkel, %P, RoHS vagy más PCB alkalmazás esetén a Bowman tökéletes megoldást kínál az Ön igényeire. A modellek és hardver opciók teljes skálájával szakértőink segítenek megtalálni az Ön igényeinek leginkább megfelelőt.

A PCB elemzés két legnépszerűbb modellje a P és B sorozatú rendszerek. A P sorozat egy multikollimátor szerelvényt tartalmaz, amely többféle méretű betéthez, több programozható XY színpadmérethez és utazási tartományhoz is alkalmas. A B sorozat a legolcsóbb opció, és ugyanazt a mérési teljesítményt kínálja, mint a P sorozat, programozható színpad vagy több kollimátorméret nélkül.

Ha az elemek mérete megközelíti a 100 µm-t vagy kisebb, A Bowman olyan polikapilláris optikai rendszereket kínál, amelyek kombinálják a nagyon kis röntgensugár-méretet a magas fluxusszintekkel. A kollimátor méretének csökkenésével párhuzamosan csökken a röntgensugárzás (fluxus) mennyisége. Ez közvetlenül befolyásolja az ismételhetőséget, és megnöveli az elfogadható eredmények eléréséhez szükséges vizsgálati időket. A polikapilláris optika a leghatékonyabb megoldást kínálja a nagyon kis elemekhez, a Bowman pedig 7.5 µm FWHM-ig terjedő sugárméretet kínál, ami a legkisebb az iparágban.