Az SDD-k biztosítják a legjobb felbontást, legalacsonyabb zajszint (legmagasabb S/N arány), hosszú távú stabilitás és legrövidebb tesztidő. Közvetlenül elektromentes nikkellerakódásokban is mérik a %P-t. A Bowman rendkívül megbízható röntgencsövével kombinálva ez a hardverduó szilárd magot képvisel minden általunk kínált XRF rendszerben.

Akár ENIG, ENEPIG, HASL, elektromentes nikkel, %P, RoHS vagy más PCB alkalmazás esetén a Bowman a tökéletes megoldást kínálja az Ön igényeinek. A modellek és hardveropciók teljes választékával szakértőink segítenek megtalálni az Ön igényeinek leginkább megfelelőt.

A PCB elemzés két legnépszerűbb modellje a P és B sorozatú rendszerek. A P sorozat egy multikollimátor szerelvényt tartalmaz, amely különféle méretű padokhoz és különféle programozható XY színpadméretekhez és utazási tartományokhoz illeszkedik. A B sorozat a legolcsóbb opció, és ugyanazt a mérési teljesítményt kínálja, mint a P sorozat, programozható színpad vagy több kollimátorméret nélkül.

Ha az elemek mérete megközelíti a 100 µm-t vagy kisebb, A Bowman olyan polikapilláris optikai rendszereket kínál, amelyek egyesítik a nagyon kis röntgensugár méretet a magas fluxusszintekkel. A kollimátor méretének csökkenésével párhuzamosan csökken a röntgensugárzás (fluxus) mennyisége. Ez közvetlenül befolyásolja az ismételhetőséget, és megnöveli az elfogadható eredmények eléréséhez szükséges vizsgálati időt. A polikapilláris optika a leghatékonyabb megoldást kínálja a nagyon kicsi elemekhez, a Bowman pedig 7.5 µm FWHM-ig kínálja a sugárméretet, ami a legkisebb az iparágban.