La fluorescenza a raggi X è una tecnica da sempre utilizzata per l'analisi dei metalli. Per l'analisi dello spessore del rivestimento, la tecnica XRF può essere applicata a qualsiasi rivestimento metallico, singolo o multistrato, su qualsiasi substrato metallico o non metallico.

Per l'analisi delle leghe, la tecnica XRF può determinare la composizione delle leghe stesse. Per l'analisi delle soluzioni, gli ioni metallici nei bagni di placcatura possono essere quantificati per il controllo del processo.

Rivelatori XRF

Confronta le diverse tecnologie dei rivelatori utilizzate negli strumenti di fluorescenza a raggi X.

Rivelatori proporzionali

• Elevato rumore di fondo
• Scarsa risoluzione
• Instabile con cambiamento di temperatura e umidità
• Richiede frequenti ricalibrazioni

Rivelatore a stato solido Si-PIN

• Basso livello di rumorosità
• Ottima risoluzione
• capacità di rilevare rivestimenti nanometrici
• Raffreddato a Peltier: molto stabile, non dipendente dalle variazioni climatiche

Silicon Drift Detector (SDD)

• Bassissimo rumore di fondo
• Alto count rate
• La più alta risoluzione
• Migliori limiti di rilevamento
• Massima versatilità per la più ampia gamma di elementi
• Raffreddato a Peltier: molto stabile, non dipendente dalle variazioni climatiche

Tutti gli strumenti Bowman XRF utilizzano rilevatori di deriva al silicio per la massima risoluzione, i livelli di rumore più bassi e la massima stabilità complessiva.

Ciò garantisce una misurazione dello spessore del rivestimento più precisa e la possibilità di effettuare analisi composizionali