SERIE O

Serie O XRF

Marchio Bowman XRF per semiconduttori

Il serie O combina prestazioni elevate con uno spot X su campione micrometrico. Il tutto grazie a un sistema ottico policapillare che focalizza i raggi X in uscita del tubo in uno spot da 80 µm sul campione, mantenendo pressoché inalterato il flusso di raggi X primario. A differenza degli strumenti con collimatori fisici che “tagliano” e riducono il flusso primario, il policapillare focalizza tutto il flusso primario sul campione; il risultato è una maggiore sensibilità nell’analisi di componenti molto piccoli o rivestimenti nanometrici in tempi di analisi brevissimi.

La configurazione standard include un ottica policapillare da 80um, una tavola XY motorizzata e programmabile, un rivelatore SDD ad alte performance per processare alti counts rates e un tubo a raggi X microfocus ad alte prestazioni. La telecamera ha un ingrandimento XNUMXx e un zoom digitale XNUMXx. Serie P

Ora disponibile con opzione tavola XY estesa

Performance

ENEPIG NiP
micron Au micron Pd micron Ni micron NiP μm% P
media 0.043 0.08 3.72 10.202 10.17
StdDev 0.0005 0.0009 0.00010 0.1089 0.29
Autonomia 0.0015 0.0030 0.040 0.3863 0.9900
% RSD 1.05% 1.13% 0.03% 1.07% 2.85%

 

Domande? Vuoi una demo? Interessato a una permuta?

            La serie O è la soluzione ideale per quei clienti che richiedono:

            • Analisi di parti e/o campioni molto piccoli quali semiconduttori, connettori o PCB;
            • Analisi multiple su campioni micrometrici;
            • Necessità di analizzare rivestimenti molto sottili (<100nm);
            • Tempi di analisi brevi (1-5 secondi)
            • Garantito per soddisfare IPC-4552 A/B, 4553A, 4554 e 4556
            • Conforme ai metodi ASTM B568, DIN 50987 e ISO 3497.
            • Il desiderio di migliorare le prestazioni e l'efficienza di un vecchio XRF e ottenere un generoso bonus di permuta!

            Specifiche

            Eccitazione raggi X: Target da 50 W Mo con ottica capillare a 80um FWHM a 17 KeV
            Rivelatore: SDD con risoluzione da 135eV
            Spessori
            Elementi analizzabili
            5 spessori (4 spessori + base) e fino a 10 elementi su strato. Analisi composizionale fino a 25 elementi simultaneamente
            Filtri / Collimatori: 2 filtri primari
            Profondità focale di uscita: Fissa a 0.1″ (2.54 mm)
            Elaborazione digitale degli impulsi: Analizzatore multicanale digitale 4096 CH con tempo di formazione variabile. Elaborazione automatica del segnale, compresa la correzione del tempo morto e la correzione del picco di fuga
            Computer: Intel, CORE i5 3470 (3.2GHz), 8GB DDR3 Memory, Microsoft Windows 10 Prof, 64bit o equivalente
            Telecamera: Risoluzione CMOS 1 × 4 VGA da 6/1280 "(720 mm), 250X con doppia fotocamera o 45X con telecamera singola su schermo da 15"
            Ingrandimento video: Micro 55X con zoom digitale 7X
            Alimentazione: 150W, 100~240 volts; range frequenza da 47Hz a 63Hz
            Ambiente Di Lavoro: 68 °F (20 °C) a 77 °F (25 °C) e fino a 98% RH, senza condensa
            Peso: 53 kg
            XY programmabile: Dimensioni tavola: 381mm (15") x 340mm (13") | Corsa: 152mm (6") x 127mm (5")
            Dimensioni interne: Altezza: 140mm (5.5"), Larghezza: 310mm (12"), Profondità: 340mm (13")
            Dimensioni esterne: Altezza: 450mm (18"), Larghezza: 450mm (18"), Profondità: 600mm (24 ")

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