La misurazione dello spessore del rivestimento è un requisito per i produttori che placcano i rivestimenti su parti metalliche, in quanto gli strumenti garantiscono qualità, specifiche precise ed economizzano la spesa.
Gli strumenti di misurazione dello spessore del rivestimento Bowman hanno una tecnologia di rilevamento proprietaria e un software avanzato che consente ai sistemi di determinare anche gli elementi presenti nel campione. I nostri strumenti XRF misurano contemporaneamente fino a cinque strati di rivestimento, ognuno dei quali può essere una lega, e può misurare anche HEA (rivestimenti ad alta entropia).
Una videocamera ad alto ingrandimento, allineata con l'asse ottico dei raggi x, seleziona l'area sul campione da misurare. La testa di analisi, controllata da una messa a fuoco laser o con telecamera, focalizza i punti di analisi di campioni a diverse forme e geometrie.
Il sistema di misurazione del rivestimento XRF di Bowman soddisfa i requisiti più severi del settore per precisione, affidabilità e facilità d'uso.
Cosa vuoi ottenere?
Maggiore precisione? Uno strumento più versatile per analisi di campioni di diverse forme e geometrie?
Parliamo.Configurazioni per ogni esigenza di misurazione
- Serie G Analisi di oro e metalli preziosi nell’industria della moda e gioielli
- Serie B Rivestimenti anticorrosione su viti, dadi, etc..
- Serie P Rivestimenti in elettronica, semiconduttori, moda, gioielleria, etc..
- Serie L Dove è richiesta l’analisi di grossi campioni
- Serie K. Area delle parti misurabili 12" x 12".
- Serie O Schede elettroniche, fili sottili, wafers, etc..
- Serie M Schede elettroniche, fili sottili, wafers con spot di analisi più piccolo
- Serie W Wafers, spot micrometrici
- Una serie per la misurazione precisa di semiconduttori e microelettronica
- Analisi rapida non distruttiva in pochi secondi
- Analisi simultanea della composizione di elementi fino al'Uranio
- Misurare contemporaneamente fino a cinque strati di rivestimento, anche in leghe
- Fundamental Parameters (FP): analisi standardizzata dello spessore e della composizione
- Facile configurazione e funzionamento: una connessione via cavo USB
- Semplici controlli sul pannello frontale
- Compatto
- Leggero
- Progettato per massimizzare la flessibilità e minimizzare gli errori degli utenti
- Tecnologia Arciere Software
- Interfaccia grafica intuitiva basata su icone
- Potente analisi qualitativa
- Libreria standard con promemoria di ricertificazione automatica
- Tasti di scelta rapida personalizzabili per un'analisi rapida
- Visualizzazione e output flessibili dei dati
- Generatore di report potente e personalizzabile
- Design monoblocco per maggiore efficienza e precisione
- Rilevatore a stato solido offre una risoluzione, stabilità e sensibilità maggiori
- Tempo di riscaldamento rapido e durata del filamento del tubo a raggi X più lunga
- Analisi film sottile per Ag, Sn sulle linee L per una maggior accuratezza ai bassi spessori
- Filtri primari multipli e collimatori per versatilità
- Focali variabili per analisi di campioni irregolari
- Sistema modulare per una facile manutenzione
Esempio di quattro opzioni di tavola XY
Standard
Base fissa
Programmabile estesa
XY Base
Motorizzata / programmabile
XY Base
Corsa massima
XY Base
Made in USA