XRF per componenti elettronici

Strumenti Bowman per analizzare le seguenti finiture:

Serie P

L'interfaccia mouse / software consente all'operatore di modificare facilmente le posizioni di misurazione. Il sistema ospita programmi personalizzati per misurare automaticamente più posizioni e più campioni.

Serie O

Analisi di precisione di campioni di piccole dimensioni; ideale per rivestimenti sottili (<100 nm) e analisi rapide.

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