I componenti elettronici continuano a miniaturizzare, quindi è fondamentale affrontare la diminuzione delle dimensioni delle caratteristiche. Ciò significa che il raggio di raggi X deve essere abbastanza piccolo da mettere a fuoco aree molto piccole. Bowman offre una gamma di formati di collimatori; per i componenti più piccoli, esistono diverse alternative di ottica poli-capillare che vanno da 7.5-80 µm FWHM.

Bowman offre anche una gamma di dimensioni del telaio e dello stadio campione per adattarsi a un'ampia gamma di dimensioni delle parti e volumi di prova. Molti dei nostri clienti lavorano con parti molto piccole come i connettori pin e misurano anche più campioni per lotto di parti. Spesso i dispositivi personalizzati presentano piccoli campioni al sistema XRF.

Tutti gli XRF Bowman consentono di creare, salvare e richiamare programmi multipunto per automatizzare i test per più parti. Uno stadio XY programmabile e un software di riconoscimento del modello integrato rendono i test ad alto volume efficienti e coerenti.

I sistemi Bowman utilizzano esclusivamente la tecnologia SDD (Silicio Drift Detector).. Gli SDD offrono la migliore risoluzione, il livello di rumore più basso (rapporto S/N più alto), stabilità a lungo termine e tempi di test più brevi. Possono anche misurare la %P direttamente nei depositi di nichel chimico. In combinazione con il tubo a raggi X altamente affidabile di Bowman, questa combinazione di hardware è uno dei motivi principali per cui i nostri XRF da banco offrono le migliori prestazioni e affidabilità a tutto tondo.

I requisiti di test dei componenti elettronici variano al punto che è difficile identificare un modello che sarebbe più vantaggioso. Visita il nostro pagina dei prodotti, usa il nostro contact form, oppure chiamaci, e uno dei nostri specialisti potrà consigliarti lo strumento più vantaggioso per il tuo ambiente di prova e il tuo budget.