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• Oro
• Palladio
• Platinum
• Nichel, Ni free
• Titanio

I sistemi Bowman XRF forniscono un metodo di test rapido, accurato e non distruttivo per l'analisi elementare dei gioielli. XRF offre vantaggi significativi in ​​termini di efficienza e facilità d'uso rispetto a tecniche lunghe e distruttive come la prova del fuoco e l'ICP.

L'analisi degli strati placcati è essenziale per garantire un'adeguata protezione contro la corrosione e l'ossidazione, aumentare la durata e ottenere una finitura attraente. Inoltre previene la placcatura eccessiva e lo spreco di metalli preziosi costosi. Un’altra grande preoccupazione per i mercati della gioielleria è l’analisi dei materiali sfusi per la conferma della purezza e dell’autenticità. I sistemi Bowman sono particolarmente adatti per determinare con precisione la composizione della base e contemporaneamente misurare lo spessore degli strati di placcatura. Tutti gli strumenti sono dotati di serie di rilevatori di deriva in silicio (SDD) a stato solido, che offrono importanti vantaggi rispetto ai contatori proporzionali e ai rilevatori a pin in silicio:

• Maggiore risoluzione energetica e sensibilità
• Capacità di analizzare elementi leggeri (fino a 13-Al)
• Elevata stabilità e precisione per applicazioni di rivestimento sottile

Inoltre, la disposizione geometrica a coppia stretta del tubo a raggi X e del rilevatore fornisce conteggi più di tre volte superiori, con conseguenti limiti di rilevamento inferiori e maggiore precisione con tempi di misurazione più brevi. In combinazione con il software all'avanguardia Archer di Bowman, che può misurare fino a 30 elementi in un unico livello, l'analisi dei gioielli non è mai stata così semplice.

I saggiatori, i produttori, gli showroom e i banchi dei pegni traggono vantaggio dall'analisi rapida e affidabile dello spessore della placcatura e della composizione delle leghe di base fornita da XRF.

Consulta il nostro bollettino applicativo sulla placcatura in rodio su leghe d'oro per saperne di più.