Bowman ha appena pubblicato un attesissimo bollettino applicativo che descrive in dettaglio la capacità dei suoi strumenti da banco XRF di misurare con precisione le finiture metallizzate in alluminio PVD. Questi sono diventati finiture molto richieste per
diverse applicazioni all'interno dell'industria automobilistica e altrove, che richiedono rivestimenti funzionali ultrasottili.
Il processo PVD deposita uno strato di materiale ad alta densità spesso solo pochi nanometri. Gli XRF Bowman misurano con precisione l'alluminio PVD, anche il cromo PVD, sia come materiale puro che come lega. L'intervallo di spessore effettivo è di 10-100 nm, su un substrato di ABS o silicio.
Questa capacità è resa possibile in parte dal grande Silicon Drift Detector di Bowman. Gli "SDD" forniscono la migliore risoluzione, il livello di rumore più basso (il più alto rapporto S/N) e i tempi di test più brevi.
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