Placcatura in platino su titanio

Le proprietà uniche del platino come la sua elevata conduttività, la straordinaria resistenza alla corrosione e alle alte temperature e tensioni, nonché la sua capacità di catalizzare numerose reazioni, lo rendono un materiale ideale per applicazioni elettrochimiche. Il suo costo proibitivo, tuttavia, rende poco pratico per molti produttori produrre anodi dal platino sfuso. Di conseguenza, sono stati sviluppati anodi di platino a basso costo che depositano una piccola quantità di platino sopra un substrato costituito da un materiale più economico e resistente alla corrosione.

Un esempio sempre più comune di queste formulazioni utilizza un substrato di titanio, sebbene ne esistano anche altri che utilizzano niobio, tantalio, carbonio e altre leghe. Questi anodi platinati sono preferiti rispetto ad altre alternative perché sono durevoli e in grado di funzionare ad alte tensioni e sono attualmente utilizzati in molte applicazioni nella ricerca e nell'industria, tra cui protezione catodica, galvanica e sensori chimici.

Una delle applicazioni più critiche negli ultimi anni però è stato utilizzato nell'elettrolisi della membrana a scambio protonico (PEM), dove reti o feltri porosi di titanio vengono platinati per agire sia come catalizzatore che come strato di diffusione del gas (GDL) per la produzione di idrogeno. Di conseguenza, molto è stato investito nell'ottimizzazione del processo per rendere il prodotto finale il più conveniente possibile. Tuttavia, la combinazione di deposito sottile e struttura porosa crea una sfida nel quantificare accuratamente la quantità di platino sul substrato, il che a sua volta rende difficile per i produttori valutare l’efficacia del loro processo.

La fluorescenza a raggi X ha una risposta a questo problema. Gli XRF Bowman sono in grado di misurare in modo accurato e preciso i rivestimenti platinati fino a pochi nanometri, grazie a limiti di rilevamento più bassi e basso rumore. L'XRF può essere utilizzato sia per determinare il carico medio del deposito su un'area sia per determinare lo spessore in un punto specifico, con ottiche policapillari con dimensioni dello spot fino a 7.5 µm FWHM. Inoltre, XRF ha tempi di ciclo molto più rapidi e una preparazione del campione ridotta rispetto a tecniche come SEM, in grado di generare risultati in pochi secondi.

Leggi la nostra nota applicativa sulle reti/schermi in platino su titanio per saperne di più.