XRF per Semiconduttori / Wafer

Strumenti Bowman per analizzare le seguenti finiture:

Serie M

Fornisce un'impareggiabile precisione per analisi di spot micrometrici (15 μm FWHM).

Serie W

Il policapillare con lo spot più piccolo al mondo, solo 7.5 μm FWHM. Analisi precise in tempi rapidi.

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