I sistemi di analisi del rivestimento Bowman XRF misurano queste applicazioni:

Gli utensili da taglio come punte da trapano, maschi, piani cottura e molto altro ancora devono soddisfare requisiti materiali specifici per essere efficaci. Devono essere più duri del materiale del pezzo da lavorare e rimanere tali alle temperature di esercizio, nonché resistenti alla flessione, all'usura e alla corrosione. Sebbene materiali come gli acciai per utensili e le leghe di tungsteno rientrino in molte caselle, non sono perfetti e sono ancora sensibili al loro ambiente di lavoro. Per prolungare la durata degli utensili da taglio, i placcatori possono aggiungere una varietà di rivestimenti per aumentarne la resilienza, tra cui alcuni dei più popolari sono i rivestimenti PVD.

I rivestimenti PVD (Physical Vapor Deposition), i più comuni per gli utensili da taglio, essendo materiali metallo-ceramici come nitruro di titanio (TiN), carbonitruro di titanio (TiCN), nitruro di cromo (CrN) e altro ancora, possono aumentare la durata degli utensili da 3 a 10 volte . Questi rivestimenti hanno una ritenzione dei bordi e una resistenza alla corrosione superiori, mentre la loro levigatezza riduce notevolmente l'attrito e l'usura. Inoltre, sono disponibili in una varietà di colori per differenziarsi esteticamente dalle loro controparti non rivestite. I processi PVD per questi rivestimenti funzionano evaporando e ionizzando una fonte metallica solida in una camera a vuoto, introducendo al contempo un gas reattivo per formare il materiale di rivestimento che si condensa sulla superficie dell'utensile. Il rivestimento risultante è molto sottile, in genere compreso tra 0.0001'-0.0005' (2.5-12.5 micron).

La fluorescenza a raggi X (XRF) consente un metodo rapido e affidabile per misurare con precisione lo spessore dei rivestimenti PVD, nonché identificare la composizione della lega dell'utensile sottostante. Inoltre, l'XRF non è distruttivo e presenta tempi di ciclo molto più rapidi e una preparazione minima del campione, generando risultati in pochi secondi. Tutti i sistemi XRF di Bowman sono dotati di rilevatori di deriva al silicio (SDD) con limiti di rilevamento inferiori e risoluzione più elevata, che li rendono lo strumento ideale per il controllo di processo e qualità.

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