CircuitsAssemblyマガジンに掲載されているとおり
ジュン・チョイ Chief Technology Officer
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幅広いサンプルに対応
PWB、リードフレーム、細線、ウェーハ
X線集光 ポリキャピラリ 高性能モデル
電子部品の微小部の測定に適しています
非常に大きなPCBおよびウェーハの正確な測定
ジュエリー業界のPM分析
ボーマンコーティング測定システム Al （１３）～U （９２）を正確に測定する
アメリカ製
