Kシリーズ は、さまざまなサンプルを扱う品質管理部門向けに開発されました。コリメート システムは、クラス最高の 12 インチ (305 mm) x 12 インチ (305 mm) の測定領域を備え、高さ 8.75 インチ (222 mm) までの部品を測定できます。自動マルチコリメータにより、さまざまな特徴サイズに合わせてスポット サイズを選択できます。可変カメラにより、0.25 インチから 3.5 インチ (6.35 mm から 89 mm) の焦点距離で測定できます。

サーボ モーター駆動のプログラム可能なステージにより、サンプルを迅速かつ正確にプログラム可能な位置に配置できます。カンチレバー ドア設計により、オペレーターはサンプルを簡単に配置できます。テーブル ビュー機能により、測定可能な領域全体を画像化し、オペレーターは 1 回のクリックで任意の場所に移動できます。オプションの組み込みジョイスティックを使用すると、オペレーターはソフトウェアを介さずにシステムのコントロール パネルから XY ステージを移動できます。

標準の K シリーズコリメート構成には、4 ポジション (4,8,12、24、0.1、0.2 ミル / 0.3、0.6、2、2 mm) のマルチコリメータが含まれます。オプションのサイズは 0.05x0.05mil (60 x 1.5 mm) から最大 400mil (10.2 mm) です。可変フォーカスにより、凹んだ領域での測定が容易になります。プログラム可能なステージにより、選択可能な XYZ プログラムを使用して、最小 XNUMXµin (XNUMXµm) の精度で部品を測定できます。プログラムでは、パターンマッチングと自動フォーカスを使用して、正確な測定を保証できます。すべての Bowman XRF システムと同様に、K シリーズには標準のシリコンドリフト検出器 (SDD) と長寿命のマイクロフォーカス X 線管が搭載されています。

K シリーズ XRF は ASTM B568、ISO 3497、および IPC-4552 に準拠しています。

Kシリーズ 極めて小さな特徴を分析するためのポリキャピラリー光学システムとして利用できるようになりました。 標準の光学系構成には、15μm FWHM 光学系と高解像度 LSDD 検出器が含まれており、より高いカウント レートを処理できます。アップグレードされた高精度のプログラム可能な XY サンプル ステージは、80µin (2µm) 未満までのさらに優れたステージ精度を提供します。これは、小さなフィーチャ サイズを正確に測定するために不可欠です。そのスケールでフィーチャを測定するために、さらに高いデジタル ズームを備えた 140 倍の高倍率カメラが含まれています。二次的な低倍率カメラとともに、これらのカメラは連携して動作し、ユーザーは鳥瞰図で部品全体を確認し、クリック アンド ポイントでフィーチャを自動的に高倍率ビューに表示できます。光学系の焦点距離は近いため、K シリーズで測定するサンプルは平坦である必要があります。

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