KシリーズXRF

Kシリーズ 幅広いサンプルを扱う品質部門向けに開発されました。 クラス最高の 12 インチ (304mm) x 12 インチ (304mm) の測定可能エリアを持ち、高さ 9 インチ (228mm) までの部品を測定できます。 自動マルチコリメータにより、さまざまな特徴サイズに対応するスポット サイズを選択できます。 可変カメラにより、25インチから3.5インチの焦点距離での測定が可能です。

サーボモーター駆動のプログラマブルステージにより、高速かつ正確にプログラム可能なサンプルの位置決めが可能になります。 カンチレバー ドアの設計により、オペレーターはサンプルの配置に簡単にアクセスできます。 利用可能なテーブル ビュー機能により、測定可能エリア全体が画像化され、オペレーターはワンクリックで任意の場所に移動できます。 利用可能な内蔵ジョイスティックを使用すると、オペレータはソフトウェアの介入なしでシステムのコントロール パネルから XY ステージを移動できます。

標準の K シリーズ構成には、4 ポジション (4,8,12、24、2、2 ミル) マルチコリメータが含まれています。 オプションのサイズは 60xXNUMXmil から最大 XNUMXmil です。 可変焦点により、奥まった領域での測定が容易になります。 サーボモーター駆動のプログラマブルステージにより、選択可能なXYZプログラムによる部品測定が可能です。 プログラムはパターン マッチングと自動フォーカスを使用して、正確な測定を保証できます。 すべての Bowman XRF システムと同様に、K シリーズは標準のシリコン ドリフト検出器 (SDD) と長寿命のマイクロフォーカス X 線管を備えています。

K シリーズ XRF は ASTM B568、ISO 3497、および IPC-4552 に準拠しています。

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            K シリーズ XRF は、次の要件を持つお客様に最適です。

            • IPC-4552、4553、4554、および 4556 への準拠を保証
            • 人間工学に基づいた卓越性: 簡単なアクセス、プログラム可能なステージ、柔軟な移動
            • ASTM B568およびISO 3497に準拠
            • RoHS対応

            製品仕様

            測定対象: アルミニウム 13〜ウラン 92
            X線源: 50 W (50kV および 1mA) マイクロフォーカス W 陽極管 (Cr、Mo、Rh 陽極が利用可能)
            検出器: 190eV分解能以上のシリコンソリッドステート検出器
            測定可能
            層数:
            5層(4層+ベース)および各層に10個の要素。 同時に最大30元素の組成分析
            フィルタ/コリメータ: 4プライマリフィルタ/ 4電動コリメータ
            焦点距離: レーザーおよび画像オートフォーカスを備えた複数の固定焦点深度
            デジタルパルス処理: 柔軟なシェーピングタイムを備えた 4096 CH デジタル マルチチャンネル アナライザー。 デッドタイム補正やエスケープピーク補正などの自動信号処理
            コンピューター: Microsoft Windows 10/11 Prof、64ビット相当
            カメラ光学系: 2x 1/3 インチ CMOS - 2688×1520 解像度
            ビデオの倍率: 30X マイクロズームおよび 7X デジタルズーム: 標準; 55X マイクロ (オプション)
            電源: 480W、100〜240ボルト。 周波数範囲47Hz〜63Hz
            総重量: 270ポンド/120kg
            プログラマブルXY: テーブルサイズ: 12インチ (304mm) x 12インチ (304mm)
            XY 移動量: 12 インチ (304mm) x 12 インチ (304mm)
            内部寸法: 高さ:609mm(24 ")、幅:609mm(24")、奥行き:228mm(9 ")
            外形寸法: 高さ:712mm(28 ")、幅:928mm(36.5")、奥行き:674mm(26.5 ")

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