P シリーズ XRF

Pシリーズ 様々なサンプルサイズ、形状、量を柔軟に測定できます。 固定ステージ上のいくつかの便利な要素を提供する高精度のプログラマブルXYステージが装備されています。 オペレータは、マウスやソフトウェアインタフェースを使用して、希望の測定場所に簡単に移動できます。 マルチポイントプログラムを作成すると、ボタンをクリックするだけで複数のサンプル位置を自動的に測定できます。 重要な領域をテストするためのピンポイント制御が可能です。 マルチポイントプログラミングにより、より大きなサンプリング量が可能です。

多くの場合、XRFの選択はPシリーズに帰着します–または Lシリーズ。 パフォーマンスと機能は同じです。 チャンバーサイズはそれらが異なるところです。 これ 短いビデオ テスト要件に最適なものを決定するのに役立ちます。

標準構成には、4ポジションのマルチコリメータアセンブリと、くぼんだ領域で測定するための可変焦点カメラが含まれます。 コリメータと焦点距離は、アプリケーションに合わせてカスタマイズできます。 SDD検出器が、長寿命のマイクロフォーカスX線管とともに含まれています。

Pシリーズは、大型PCBまたはフラットパネルをテストするために設計されました。 サンプルサイズに応じて、3つのサンプルステージオプションで利用できます。 これの違いを見てください 短いビデオ.

質問? デモをしたいですか? 下取りに興味がありますか?

            PシリーズXRFは、次の要件を満たすお客様に最適です。

            • ファスナー、コネクター、PCBなどの小型部品
            • 新規ロットごとに複数のサンプルまたは場所をテストするための要件
            • 複数サンプルの測定を自動化したい
            • さまざまなサンプルサイズとアプリケーション
            • IPC-4552 A / B、4553A、4554、および4556に適合することが保証されています
            • ASTM B568、DIN 50987およびISO 3497
            • 古いXRFのパフォーマンスと効率をアップグレードし、下取りサービスをご検討中の方!

            製品仕様書

            測定対象: アルミニウム13〜ウラン92
            X線源: 50 W(50kV 1mA)小型空冷式X線管球 Wターゲット
            検出器: 190eV分解能以上のシリコンソリッドステート検出器
            測定可能
            層数:
            最大5層(4層+基材)と各層の10エレメント 最大25エレメントまで同時測定
            フィルタ/コリメータ: 4 一次フィルター/4 コリメーター
            焦点距離: フォーカスレーザー同期 複数の固定焦点
            デジタルパルス処理: フレキシブルなShaping tme機能を備えた4096 CHデジタルマルチチャンネルアナライザ デッドタイム補正やエスケープピーク補正などの自動信号処理
            コンピューター: Intel、CORE i5 3470プロセッサ(3.2GHz)、8GB DDR3メモリ、Microsoft Windows 10 Prof、64ビット同等
            カメラ光学系: 1/4インチ(6mm)CMOS-1280×720VGA解像度
            ビデオの倍率: 30倍マイクロおよび7倍デジタルズーム:標準; 55Xマイクロ:オプション
            電源: 150W、100-240ボルト、周波数範囲は47Hz〜63Hzです
            総重量: 32-50kg
            標準電動/プログラマブルXY: テーブルサイズ:381mm(15 ")x 340mm(13")| 移動域:152mm(6 ")x 127mm(5")
            拡張プログラマブルXY: テーブルサイズ:635mm(25 ")x 635mm(25")| 移動:254mm(10 ")x 254(10")
            拡張ステージオプション 使用可能
            内部寸法: 高さ:140mm(5.5 ")、幅:310mm(12")、奥行き:340mm(13 ")
            外形寸法: 高さ:450 mm(18 ")、幅:450 mm(18")、奥行き:600 mm(24 ")

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