PシリーズXRF
Pシリーズ 様々なサンプルサイズ、形状、量を柔軟に測定できます。 固定ステージ上のいくつかの便利な要素を提供する高精度のプログラマブルXYステージが装備されています。 オペレータは、マウスやソフトウェアインタフェースを使用して、希望の測定場所に簡単に移動できます。 マルチポイントプログラムを作成すると、ボタンをクリックするだけで複数のサンプル位置を自動的に測定できます。 重要な領域をテストするためのピンポイント制御が可能です。 マルチポイントプログラミングにより、より大きなサンプリング量が可能です。
多くの場合、XRFの選択はPシリーズに帰着します–または Lシリーズ。 パフォーマンスと機能は同じです。 チャンバーサイズはそれらが異なるところです。 これ 短いビデオ テスト要件に最適なものを決定するのに役立ちます。
標準構成には、4ポジションのマルチコリメータアセンブリと、くぼんだ領域で測定するための可変焦点カメラが含まれます。 コリメータと焦点距離は、アプリケーションに合わせてカスタマイズできます。 SDD検出器が、長寿命のマイクロフォーカスX線管とともに含まれています。
Pシリーズは、大型PCBまたはフラットパネルをテストするために設計されました。 サンプルサイズに応じて、3つのサンプルステージオプションで利用できます。 これの違いを見てください 短いビデオ.
質問？ デモをしたいですか？ 下取りに興味がありますか？
PシリーズXRFは、次の要件を満たすお客様に最適です。
- ファスナー、コネクター、PCBなどの小型部品
- 新規ロットごとに複数のサンプルまたは場所をテストするための要件
- 複数サンプルの測定を自動化したい
- さまざまなサンプルサイズとアプリケーション
- IPC-4552、4553、4554、および 4556 への準拠を保証
- ASTM B568 および ISO 3497
- 古いXRFのパフォーマンスと効率をアップグレードし、下取りサービスをご検討中の方！
製品仕様
| 測定対象： | アルミニウム13〜ウラン92 |
| X線源： | 50 W（50ｋV 1ｍA）小型空冷式X線管球 Wターゲット |
| 検出器： | 190eV分解能以上のシリコンソリッドステート検出器 |
| 測定可能 層数： |
最大5層（4層+基材）と各層の10エレメント 最大30エレメントまで同時測定 |
| フィルタ/コリメータ： | 4 一次フィルター/4 コリメーター |
| 焦点距離： | フォーカスレーザー同期 複数の固定焦点 |
| デジタルパルス処理： | フレキシブルなShaping tme機能を備えた4096 CHデジタルマルチチャンネルアナライザ デッドタイム補正やエスケープピーク補正などの自動信号処理 |
| コンピューター： | Intel CORE i5 第 9 世代デスクトップ プロセッサ、ソリッド ステート ハード ドライブ、16 GB RAM、Microsoft Windows 11 Professional 64 ビット相当 |
| カメラ光学系： | 1/4インチ（6mm）CMOS-1280×720VGA解像度 |
| ビデオの倍率： | 30倍マイクロおよび7倍デジタルズーム：標準; 55Xマイクロ：オプション |
| 電源： | 150W、100-240ボルト、周波数範囲は47Hz〜63Hzです |
| 総重量： | 52-70kg |
| 標準電動/プログラマブルXY： | テーブルサイズ: 330mm (13″) x 381mm (15″)| 移動: 127mm (5″) x 152mm (6″) |
| 拡張プログラマブルXY： | テーブルサイズ：718mm（28.25 "）x 610mm（24"）| 移動：254mm（10 "）x 254（10"） 拡張ステージオプション で と 最大延長 使用可能 |
| 最大拡張プログラム可能 XY: | テーブルサイズ: 813mm (32″)x 781mm (30.75″)| 移動: 406mm (16″)x 406mm (16″) |
| 内部寸法： | 高さ：140mm（5.5 "）、幅：305mm（12"）、奥行き：330mm（13 "） |
| 外形寸法： | 高さ：457mm（18 "）、幅：457mm（18"）、奥行き：610mm（24 "） |
アメリカ製