あらゆる産業用および研究用のコーティング厚測定

機器は品質、正確な仕様を保証し、支出を節約するため、コーティングの厚さ測定は、金属部品にコーティングをめっきするメーカーにとっての要件です。

Bowmanのコーティング厚測定装置には、独自の検出技術と高度なソフトウェアがあり、システムはサンプルに存在する元素も測定できます。 当社のXRF装置は、最大5つのコーティング層を同時に測定します。すべて合金にすることができ、HEA(高エントロピーコーティング)も測定できます。

X線光学軸に位置合わせされたビデオカメラは、測定するサンプル上の領域を選択することができます。 フォーカスレーザによって制御されたエレベータユニットは、様々な高さのサンプルを収容することができます。

Bowman XRFコーティング測定システムは、業界で最も厳しい精度、信頼性、使いやすさの要件を満たしています。 コンパクトで人間工学に基づいた設計により、すべてのアプリケーションに便利な分析が、高速ROIを保証する価格で実現します。

あなたは何を求めていますか?

より高い精度? より速いスループット? サンプルサイズの柔軟性 - または出力?

ぜひお問合せください。

測定ニーズに対応したモデルラインナップ

  • Gシリーズ 宝石産業のための遷移金属分析
  • Bシリーズ 小さな電気メッキサンプル用
  • Pシリーズ 汎用機、エレクトロニクス、一般仕上げ、貴金属
  • Oシリーズ 大型薄膜分析装置
  • Mシリーズ 微小部スポットポリキャピラリー光学系を備えた薄膜用測定器
  • Lシリーズ 大型メッキサンプル用
  • Wシリーズ マイクロエレクトロニクスにおける微小部の測定ができます

 

スマートなデザイン、強力な分析
  • 数秒で高速な非破壊解析
  • 最大25種類の元素の同時組成分析
  • 最大5つのコーティング層を同時に測定します。すべて合金でも可能
  • FP法検量線の標準レス厚さと組成分析
  • 簡単なセットアップと操作 - 1つのUSBケーブル接続
  • シンプルなフロントパネルコントロール
  • 小さな足跡
  • 軽量
直感的なユーザーインターフェイス
  • 柔軟性を最大限に高め、ユーザーのエラーを最小限に抑えるように設計
  • .Netフレームワークベース Xralizer ソフトウェア
  • 直感的なアイコン操作のグラフィカルインターフェイス
  • 強力な定性分析
  • 自動再認証リマインダを備えた標準ライブラリ
  • 迅速な分析のためのカスタマイズ可能なショートカットキー
  • 柔軟なデータ表示と出力
  • 強力なレポートジェネレータ
パフォーマンス、パワー、利便性
  • 電力効率と精度を向上させるための主要部品のモジュール化設計
  • 実績のある検出器により、より高い分解能、安定性、感度を実現
  • 短いウォームアップ時間とより長いX線管のフィラメント寿命
  • Ag、SnのL線薄膜分析
  • 汎用性の高い複数のプライマリフィルタとコリメータ
  • 複雑なサンプル形状と厚い層分析のための焦点距離可変機能
  • 簡単なメンテナンスのためのモジュラーコンポーネント設計

 

 

4つのサンプルステージオプション

スタンダード
固定台

拡張プログラマブル
XYベース

電動/プログラマブル
XYベース

最大移動延長
XYベース

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