Jun Choi Chief Technology Officer (CTO)
가장 작은 전자 제품의 측정
큰 제품 상의 일반적인 도금 측정
제품의 매우 작은 포인트 측정
PWB, 리드 프레임, 전선, 웨이퍼 등의 측정
전자 부품, 반도체, 커넥터 등 측정
일반적인 도금 측정
상향식 분석 + 모터 Z 축, 자동 초점
귀금속 산업에서의 PM 분석
Bowman 도금 측정 시스템 Al (13) 부터 U (92) 까지의 정밀 분석
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