XRF 기술의 장점

XRF는 금속 성분, 특히 주기율표 상의 티타늄(Ti)부터 우라늄(U) 사이의 금속에 민감하게 반응합니다. 도금 두께 측정에 있어서, XRF는 금속이나 비 금속의 재질에 도금된, 단층의 두께뿐만 아니라 여러 층의 두께도 측정할 수 있습니다.

합금 분석에 있어서도 XRF는 각 혼합 원소의 % 성분비를 측정하며, 합금의 종류를 확인할 수 있습니다. 도금 용액의 분석에 있어서는 도금 용액 내의 금속 이온의 양을 측정하여 공정 제어를 가능하게 해줍니다.


Bowman 측정기의 주요 특징

  • 샘플의 준비과정이 거의 필요가 없는 비 파괴 측정
  • 빠른 분석 - 결과는 단 몇 초 내에 측정됩니다.
  • 낮은 운영 비용: 전문적인 지식을 가지고 있지 않은
    초보자도 사용이 가능합니다.
  • 여러 유형의 샘플에 다양한 목적으로 사용될 수 있습니다.
  • 큰 샘플상의 작은 포인트의 측정 가능
  • 대부분의 금속 원소에 대해 동시 분석 가능
  • 세계 여러 나라에서 승인된 산업용의 검증 테스트 방법

XRF 검출 기술

XRF 측정기에서 사용되는 다양한 검출기의 기술적 비교

Gas Filled Prop Counter Detector

  • 베이스라인 노이즈가 높음
  • 낮은 해상도
  • 온도 및 습도 변화에 불안정함
  • 빈번한 재 교정이 요구됨

Silicon PIN Diode Detector

  • 낮은 노이즈 레벨
  • 높은 해상도
  • 뛰어난 검출 한계
  • Peltier 냉각 방식: 매우 안정적이며 기후에 영향을 받지 않음

Silicon Drift Detector (SDD)

  • 가장 낮은 베이스라인 노이즈
  • 가장 높은 카운트 검출 능력
  • 최고 해상도
  • 최상의 검출 한계
  • 측정 가능 원소 범위가 넓어서 최고의 활용성을 가짐
  • Peltier 냉각 방식: 매우 안정적이며 기후에 영향을 받지 않음

모든 Bowman XRF 계측기는 최고 해상도, 최저 노이즈 레벨 및 전반적인 안정성을 위해 실리콘 탐지기를 사용합니다.

이것은 가장 정확한 도금 두께 측정과 원소 분석을 가능하게 합니다.