XRF는 금속 성분, 특히 주기율표 상의 티타늄(Ti)부터 우라늄(U) 사이의 금속에 민감하게 반응합니다. 도금 두께 측정에 있어서, XRF는 금속이나 비 금속의 재질에 도금된, 단층의 두께뿐만 아니라 여러 층의 두께도 측정할 수 있습니다.
합금 분석에 있어서도 XRF는 각 혼합 원소의 % 성분비를 측정하며, 합금의 종류를 확인할 수 있습니다. 도금 용액의 분석에 있어서는 도금 용액 내의 금속 이온의 양을 측정하여 공정 제어를 가능하게 해줍니다.
Bowman 측정기의 주요 특징
- 샘플의 준비과정이 거의 필요가 없는 비 파괴 측정
- 빠른 분석 - 결과는 단 몇 초 내에 측정됩니다.
- 낮은 운영 비용: 전문적인 지식을 가지고 있지 않은 <Br> 초보자도 사용이 가능합니다.
- 여러 유형의 샘플에 다양한 목적으로 사용될 수 있습니다.
- 큰 샘플상의 작은 포인트의 측정 가능
- 대부분의 금속 원소에 대해 동시 분석 가능
- 세계 여러 나라에서 승인된 산업용의 검증 테스트 방법
XRF 측정기에서 사용되는 다양한 검출기의 기술적 비교
Gas Filled Prop Counter Detector
- 베이스라인 노이즈가 높음
- 낮은 해상도
- 온도 및 습도 변화에 불안정함
- 빈번한 재 교정이 요구됨
Silicon PIN Diode Detector
- 낮은 노이즈 레벨
- 높은 해상도
- 뛰어난 검출 한계
- Peltier 냉각 방식: 매우 안정적이며 기후에 영향을 받지 않음
Silicon Drift Detector (SDD)
- 가장 낮은 베이스라인 노이즈
- 가장 높은 카운트 검출 능력
- 최고 해상도
- 최상의 검출 한계
- 측정 가능 원소 범위가 넓어서 최고의 활용성을 가짐
- Peltier 냉각 방식: 매우 안정적이며 기후에 영향을 받지 않음
모든 Bowman XRF 기기는 최고 분해능, 최저 노이즈 수준 및 최고의 전체 안정성을 위해 실리콘 드리프트 감지기를 사용합니다.
이것은 가장 정확한 도금 두께 측정과 원소 분석을 가능하게 합니다.
Made in the USA