B 시리즈 XRF

B 시리즈 XRF

Bowman 브랜드 XRF 시스템

B 시리즈는 Bowman이 제공하는 가장 기본적인 하향식 측정 구성을 나타냅니다. 샘플 스테이지는 고정 된베이스 플레이트이므로 작업자가 테스트를 위해 수동으로 원하는 부분에 부품을 배치해야합니다. 이는 챔버에 부품을 놓고 비디오 이미지를 사용하여 화면의 십자형 안쪽에 원하는 위치를 정렬하여 수행됩니다. 샘플 챔버는 P 시리즈와 동일하게 슬롯 형태이지만 자동 측정을 위한 XY 스테이지를 가지고 있지는 않습니다.

기본적으로 고정된 하나의 시준기(Collimator)와 초점 거리가 고정된 카메라를 가지고 있습니다. 또한, 반도체 PIN 검출기와 보우만의 엑스레이 발생장치(Long-Life Micro-focus X-ray Tube)가 함께 장착되어 있습니다. 모든 보우만의 모델들과 같은 사양으로 다중 시준기와 가변 초점 카메라 혹은 SDD 검출기 사용을 위해 업그레이드 될 수 있습니다.

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B 시리즈 XRF는 아래의 사항을 필요로 하는 고객에게 가장 적합합니다:

  • 상대적으로 적은 양의 측정
  • 한 포인트만 측정하는 큰 샘플들
  • 적은 포인트를 측정하는 넓은 PCB
  • 현재의 예산은 많지 않지만 추후 업그레이드 필요
  • IPC-4552A, 4553A, 4554 및 4556을 (를) 보장합니다.
  • ASTM B568, DIN 50987 및 ISO 3497

측정기 사양

측정 가능 원소 : Aluminium 13 to Uranium 92)
엑스레이 발생장치 : 50 W (50kV and 1mA) micro-focused W anode tube
검출기 : Silicon solid state detector with 190eV resolution or better
측정 가능한
도금층과 원소의 갯수 :
5 layers (4 layers + base) and 10 elements in each layer with composition analysis of up to 25 elements simultaneously
필터 / 시준기(Collimator) : 4 primary filters/single motorized collimators
초점 거리 : Fixed focal depths with laser (optional multi focal)
디지털 펄스 프로세싱 : 4096 CH digital multi-channel analyser with flexible shaping time. Automatic signal processing including dead time correction and escape peak correction
컴퓨터 : Intel, CORE i5 3470 Processor (3.2GHz), 8GB DDR3 Memory, Microsoft Windows 10 Prof, 64-bit equivalent
카메라 : 1 / 4 "(6mm) CMOS-1280 × 720 VGA 해상도
입력 전원 : 150W, 100-240 volts, with frequency range of 47Hz to 63Hz
무게 : 34kg
XY 테이블 : Table size: Not available
확장형 XY 테이블 : Table size: Not available
내부 측정 공간 : Height: 140mm (5.5″), Width: 310mm (12″), Depth: 335mm (13″)
측정기 크기 : Height: 450mm (18″), Width: 450mm (18″), Depth: 600mm ( 24″)