K 시리즈는 광범위한 샘플을 처리하는 품질 부서를 위해 개발되었습니다. 콜리메이트 시스템은 최대 12인치(305mm) 높이의 부품에서 동급 최고의 12인치(305mm) x 8.75인치(222mm) 측정 가능 영역을 제공합니다. 자동 멀티 콜리메이터는 다양한 특징 크기를 수용하기 위해 선택 가능한 스팟 크기를 허용합니다. 가변 카메라는 0.25인치에서 3.5인치(6.35mm에서 89mm)의 초점 거리에서 측정을 허용합니다.

서보 모터 구동 프로그래밍 가능 스테이지는 빠르고 정확한 프로그래밍 가능 샘플 위치 지정을 가능하게 합니다. 캔틸레버 도어 디자인은 작업자가 샘플을 배치하기 쉽게 접근할 수 있게 합니다. 사용 가능한 테이블 뷰 기능은 측정 가능한 전체 영역을 이미지화하고 작업자가 한 번의 클릭으로 모든 위치로 이동할 수 있게 합니다. 옵션으로 제공되는 내장 조이스틱을 사용하면 작업자가 소프트웨어 개입 없이 시스템 제어판에서 XY 스테이지를 이동할 수 있습니다.

표준 K 시리즈 콜리메이트 구성에는 4위치(4,8,12 & 24 mil / 0.1, 0.2, 0.3 & 0.6 mm) 멀티 콜리메이터가 포함됩니다. 옵션 크기는 2x2mil(0.05 x 0.05 mm)에서 최대 60mil(1.5mm)입니다. 가변 초점은 움푹 들어간 영역에서 측정을 용이하게 합니다. 프로그래밍 가능한 스테이지는 선택 가능한 XYZ 프로그램으로 400µin(10.2µm)의 정밀도까지 부품을 측정할 수 있습니다. 프로그램은 패턴 매칭과 자동 초점을 사용하여 정밀한 측정을 보장할 수 있습니다. 모든 Bowman XRF 시스템과 마찬가지로 K 시리즈는 표준 실리콘 드리프트 검출기(SDD)와 장수명 마이크로 초점 X선관을 갖추고 있습니다.

K 시리즈 XRF는 ASTM B568, ISO 3497 및 IPC-4552를 준수합니다.

K 시리즈는 이제 매우 작은 특징을 분석하기 위한 폴리 모세관 광학 시스템으로 사용 가능합니다. 표준 광학 구성에는 15μm FWHM 광학과 고해상도 LSDD 검출기가 포함되어 더 높은 카운트 속도를 처리합니다. 업그레이드된 정밀 프로그래밍 가능 XY 샘플 스테이지는 80µin(2µm) 미만까지 더 나은 스테이지 정밀도를 제공하며, 이는 작은 피처 크기의 정확한 측정을 보장하는 데 필수적입니다. 그 규모의 피처를 측정하기 위해 더욱 높은 디지털 줌을 갖춘 140배 고배율 카메라가 포함되어 있습니다. 보조 저배율 카메라와 함께 이러한 카메라는 사용자가 전체 부품을 조감도로 보고 클릭 앤 포인트하여 자동으로 피처를 고배율 보기로 가져올 수 있도록 함께 작동합니다. 광학 시스템은 초점 거리가 가깝기 때문에 K 시리즈로 측정한 샘플은 평평해야 합니다.

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