P 시리즈는 다양한 시료의 크기, 모양 및 수량을 측정 할 수 있는 유연성을 제공합니다. 측정기는 여러 가지 편리한 요소를 제공하는 높은 정밀도를 가진 프로그래밍이 가능한 XY 스테이지가 장착되어 있습니다. 사용자는 마우스 및 소프트웨어 인터페이스를 사용하여 원하는 측정 위치로 쉽게 이동할 수 있습니다. 버튼 클릭만으로 여러 샘플 위치를 자동으로 측정 할 수있는 자동 측정 프로그램을 만들 수 있습니다. 중요한 영역을 테스트 할 때 정확한 제어가 가능합니다. 자동 측정 프로그래밍을 통해 더 많은 샘플을 더 빠르게 측정할 수 있습니다.

종종 XRF 선택은 P 시리즈 혹은 L 시리즈로 귀결됩니다. 성능과 기능은 동일합니다. 챔버 크기가 다릅니다. 이 간략한 비디오 는 테스트 요구 사항에 가장 적합한 것을 결정하는 데 도움이 될 수 있습니다.

표준 구성에는 4개의 다중 시준기 어셈블리와 시료의 깊은 영역을 측정하기 위한 가변 초점 카메라가 포함됩니다. 시준기 및 초점 거리는 애플리케이션에 맞게 사용자 정의할 수 있습니다. 수명이 긴 마이크로 초점 엑스레이와 함께 SDD 검출기가 포함되어 있습니다.

P 시리즈는 대형 PCB 또는 평면 패널 테스트용으로 설계되었습니다. 시료의 크기에 따라 3가지 시료 스테이지 옵션을 사용할 수 있습니다. 이 차이점을 짧은 비디오를 통해서 확인 하십시오. 간략한 비디오.

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