W 시리즈 마이크로 XRF 는 XRF 기술을 사용하며, 도금 두께 분석을 위한 세계 최소 빔 크기 인 7.5 µm FWHM에 X 선의 초점을 맞추기 위해 Poly-capillary Optics을 사용합니다. 따라서 BGA 및 더 작은 솔더 범프와 같은 시료의 측정에 이상적입니다. 140X 확대 카메라는 이 배율에서 보이는 매우 작은 포인트를 측정하는 데 사용됩니다. 시료를 보다 넓게 보거나 시료 전체를 볼 수 있는 낮은 배율의 보조 카메라가 함께 제공됩니다. Bowman의 듀얼 카메라 시스템을 통해 작업자는 전체 부품을보고, 이미지를 클릭하여 고 배율 카메라로 확대 / 축소하여, 측정할 포인트들을 프로그래밍 하고 원하는 포인트를 정확하게 찾아서 측정할 수 있습니다.

각 축에 대해 +/- 1 µm 미만의 정밀한 프로그래밍이 가능한 XY 스테이지를 사용하여 여러 포인트를 선택하고 측정합니다. Bowman 패턴 인식 소프트웨어 및 자동 초점 기능도 자동으로 수행됩니다. 시스템의 3D 매핑 기능을 사용하여 실리콘 웨이퍼와 같은 부품의 코팅 지형을 볼 수 있습니다.

W 시리즈의 표준 구성에는 Molybdenum(Mo) anode tube (Cr 혹은 W 선택가능)을 사용하는 7.5μm Optics와 초당 2 백만 건 이상을 처리하는 높은 해상도의 Large-window Silicon Drift Detector가 포함됩니다.

W 시리즈 Micro XRF는 Bowman의 XRF 기기 제품군의 7 번째 모델입니다. 포트폴리오의 다른 제품과 마찬가지로 최대 5 개의 코팅 레이어를 동시에 측정하고 고급 Xralizer 소프트웨어를 실행하여 감지 된 광자에서 코팅 두께를 정량화합니다. Xralizer 소프트웨어는 직관적 인 시각적 컨트롤과 시간 절약형 바로 가기, 광범위한 검색 기능 및 "원 클릭"보고 기능을 결합합니다. 이 소프트웨어는 또한 사용자가 새로운 응용 프로그램을 만드는 것을 단순화합니다.

질문이 있으십니까? 데모를 원하십니까? 보상 판매에 관심이 있으십니까?