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September, 2018 - 세계적인 수준의 미국에 위치한 XRF 측정기 제조업체인 Bowman은 반도체 / 웨이퍼 제조 업계에서 주로 사용되는 XRF 도금 두께 측정기에서 사용할 수 있도록 길고 넓어진 샘플 스테이지 옵션을 도입했습니다.

이 분야에서는 회로 밀도, 트레이스 간격, 보드 게이지, 종횡비율, 마이크로바이어스 등이 중요시 되며, 보다 작은 포인트를 더 많이 측정할 수 있는 방법이 강력히 요구되어져 왔습니다.

일부 대량 작업에서 리지드/플렉스 보드는 610 × 530 mm 만큼 클 수 있습니다. 이 경우 시료의 전체 표면적을 감당할 수는 없지만, Bowman의 넓어진 샘플 스테이지를 사용하면 시료의 빠른 위치 변경 한 번만으로 시료의 모든 부분을 측정할 수 있습니다.

Bowman의 확장 스테이지 옵션은 오랜 PCB 고객 두명에 의해서 창안되었습니다. 그들은 400 × 300 mm (16 × 12 ") 정도의 이동 거리를 가진 800 × 600 mm (32 × 24") 크기의 테이블을 요청했습니다.

뇌졸중 가능성이 더 길고 탁상용 테이블이 넓어지면서 마이크로 일렉트로닉스 분야 전반에 걸친 품질 실험실에서 효율적이고 전례없는 새로운 동력이 창출되었습니다.

Bowman의 확장 테이블 정밀도는 ± 3μm입니다. Bowman 3 XRF 코팅 두께 계측기의 7에이 옵션을 사용할 수 있습니다.
"P"시리즈 "O 시리즈" "M"시리즈

September, 2018 - Bowman CTO (Chief Technology Officer) 인 Jun Choi는 두 명의 인력 채용을 발표했습니다.

Jessica Hermanny는 Bowman의 새로운 운영 분석가입니다. 이전에는 Caterpillar Global Mining에서 7 년 동안 엔지니어링 전문 제품인 Product Change Control을 관리했습니다.

Bowman에서 그녀는 새로운 ERP 시스템의 개발, 재고 관리, 그리고 Calibration Recertification 및 관련 업무를 담당합니다. 완벽하게 구현되면 ERP 변환은 제조 흐름을 최적화하고, 측정기의 시리즈와 옵션의 선택에서 고객의 변화에 ​​대한 대응을 단순화합니다.

또한, 독일어에 유창한 Jessica는 새로운 시장 개발 분야에서 눈부신 한 해를 보낸 Bowman의 독일 파트너인 DEPraTechnik GmbH & Co.의 마케팅 텍스트 번역을 지원하고 있습니다.

Jessica는 Hillsdale College에서 학사 학위를 받았고, , University of Wisconsin-Milwaukee에서 독일어 - 영어 번역 석사 학위를 받았습니다. 그녀는 고전적으로 교육을 받은 피아니스트이며 Southeastern Wisconsin 출신입니다.

Jonathan Rakushin-Weinstein도 Bowman 팀에 합류했습니다. 그는 Bob Maygar가 이끄는 소프트웨어 엔지니어링 그룹의 최신 멤버입니다.

Jonathan은 Urbana-Champaign에 있는 University of Illinois에서 컴퓨터 엔지니어링 학사 학위를 받았습니다. 그의 주된 업무는 모든 Bowman XRF 시스템의 핵심인 진보된 XRalizer 소프트웨어의 애플리케이션 개발 및 유지 보수와 펌웨어 및 새로운 기능 개발을 지원하는 것입니다.

August, 2018 Bowman China는 Arthur He의 지도력하에 CPCA에서 큰 성공을 거두었으며 Changzhou, Qingdao 및 Chongqing의 무역 박람회에서 첨단 Bowman XRF 기술을 전시했습니다. Hanergy, 중국 전역의 공장과 주요 태양 전지 패널 제조 업체 중 하나입니다 보먼 중국의 주요 고객 중 하나입니다; 그들은 최근 선진 제조 라인을 위해 4 L 시리즈 장비를 계약했습니다. 중국의 XRF 사용자는 Bowman China의 새로운 응용 프로그램 엔지니어 인 Kai Zheng이 가져온 수년 간의 경험을 활용할 수 있습니다. Bowman으로 옮기기 전에 Oxford와 Thermo Scientific Instruments에서 수년간의 경험을했습니다.

July, 2018 - Delta Sales Associates Inc.는 오하이오 주 노스 잭슨 소재 TTM에 Bowman Model "P"XRF 도금 두께 측정 시스템을 최근에 판매한다고 발표했습니다. TTM은 Bowman 시스템을 사용하여 ENIG, ENEPIG, 주석 납 및 기타 침전물을 정밀하게 측정합니다.

Bowman의 "P" 시리즈는 PCB 및 커넥터 제품의 측정을 위해 특별히 설계되었습니다. 그것은 확장된 테이블을 가지고 있으며 IPC 4552 Rev A를 지원합니다.

July, 2018 - X-RAY NOW, 캘리포니아, 애리조나, 네바다, 콜로라도, 태평양 북서부 및 멕시코에있는 Bowman의 독점 판매권 및 지원 제공 업체 인 캘리포니아 주 산타 아나 (Santa Ana)에 새로운 본사가 있습니다. X-RAY NOW는 2001 이후 PCB 및 반도체 산업을위한 XRF 코팅 두께 측정 시스템을 제공했습니다. 새롭고 사용 된 XRF 장비를 판매하고 서비스, 수리 및 교정 및 표준을 제공합니다.

X-RAY NOW는 그들의 사무실 혹은 고객의 장소에서 Bowman 측정기에 대한 고객 데모를 제공합니다. Zach, Phil 및 그들의 숙련된 XRF 팀에 연락하십시오. 연락처는 714-396-2519 입니다.

June, 2018 - JPCA (Japan Electronics Packaging and Circuits)는 6 월 6th에서 6 월 9th 동안 도쿄에서 개최되었습니다. Koichiro Hotta와 Flex Service Co., Ltd.의 팀은 지난 해 43,000 + 참석자들을 그린이 연례 행사에서 Bowman P 시리즈를 시연했습니다.

June, 2018

Quality Magazine (June issue) 기사 읽기 :

"XRF 측정을 통해 목표 달성
낮은 정밀도의 탐지 제한 - 빠르고 "

Jun Cho, Bowman 최고 기술 책임자 (CTO)

June, 2018 - XRF 측정 기술을 사용하는 품질 연구소의 미국 제조업체이자 글로벌 서비스 제공 업체인 Bowman은 반도체 및 마이크로 전자 부품의 매우 작은 포인트를 측정할 수 있는 새로운 측정기를 출시했습니다.

Bowman의 W 시리즈는 poly-capillary optics을 사용하여 7.5μm FWHM 크기에 엑스레이를 집중시킵니다. 이는 XRF 기술을 사용하는 도금 두께 측정기 중 세계에서 가장 작은 크기입니다. 150배의 배율을 가진 카메라를 사용하여 해당 크기의 포인트를 측정합니다. 또한 낮은 배율의 카메라를 추가로 활용하여 샘플의 위치를 확인하고, 전체 샘플을 볼 수 있는 Macro-view 이미지를 제공합니다. Bowman의 듀얼 카메라 시스템을 통해 작업자는 전체 부품을 보고 측정할 포인트를 확인할 수 있으며, 고해상도 카메라로 정확한 측정 포인트를 찾을 수 있습니다. 또한, 프로그래밍을 활용하여 여러 포인트를 자동으로 측정할 수도 있습니다.

측정 포인트의 프로그래밍이 가능한 X-Y 스테이지는 +/- 1 μm 미만의 정밀도를 가지고 있으며, 이는 측정할 여러 포인트를 선택하고 자동으로 측정하는 데 사용됩니다. Bowman의 패턴 인식 소프트웨어와 자동 초점 기능도 자동으로 이 작업을 수행합니다. 시스템의 3D 매핑 기능을 사용하여 실리콘 웨이퍼와 같은 부품의 도금 형태를 확인할 수도 있습니다.

W 시리즈는 Bowman의 XRF 인스트루먼트 제품군의 7th 모델입니다.

보다 자세한 사항을 확인하실 수 있습니다. W 시리즈 XRF 도금 두께 측정기